1. 導(dǎo)讀

石家莊可編程恒溫恒濕試驗箱是高溫老化、環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）及材料穩(wěn)定性測試的核心設(shè)備，選型需重點關(guān)注溫度/濕度控制精度、負載容量及安全聯(lián)鎖功能。用戶應(yīng)優(yōu)先選擇符合GB/T 2423、IEC 60068等標準的設(shè)備，并通過FAT（工廠驗收測試）和SAT（現(xiàn)場驗收測試）確保性能達標。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 設(shè)備技術(shù)解析與選型
• 關(guān)鍵參數(shù)實操表
• 選型決策流程圖
• 設(shè)備對比橫評表
• 采購全流程Checklist
• 常見故障與維護
• FAQ
• 外部參考

3. 快速答案卡片

4. 設(shè)備技術(shù)解析與選型

試驗?zāi)康呐c行業(yè)場景

石家莊可編程恒溫恒濕試驗箱主要用于：

• 電子元器件：高溫老化測試（如IC、電容、連接器），模擬85℃/85%RH加速壽命試驗。
• 材料科學：塑料、橡膠的濕熱老化（ASTM D573標準）。
• 汽車電子：車規(guī)級芯片的“雙85”測試（85℃/85%RH持續(xù)1000小時）。
• 包裝運輸：ISTA 3A標準下的溫濕度循環(huán)測試。

失效機理：高溫導(dǎo)致材料氧化、熱膨脹系數(shù)失配；高濕引發(fā)金屬腐蝕、絕緣性能下降。

關(guān)鍵參數(shù)與標準

選型決策流程

1. 需求確認：明確試樣尺寸（如300mm×300mm×300mm）、負載數(shù)量（如10個PCB板）。
2. 參數(shù)匹配：選擇溫度波動度≤± ℃、濕度均勻性≤±3%RH的設(shè)備。
3. 標準驗證：要求廠商提供CNAS認證的校準報告。
4. 預(yù)算控制：基礎(chǔ)款（8萬–15萬）適用于研發(fā)，高精度款（30萬–50萬）用于品控。

詢價模板：

5. 選型對比橫評表

6. 采購與驗收 Checklist

1. 需求階段：明確試樣類型、測試周期、預(yù)算上限。
2. 技術(shù)協(xié)議：約定溫度/濕度均勻性、升溫速率（如3℃/min）。
3. 報價對比：核查是否含運輸、安裝、培訓費用。
4. FAT測試：驗證設(shè)備在-40℃、+85℃、85%RH工況下的穩(wěn)定性。
5. SAT驗收：現(xiàn)場復(fù)現(xiàn)用戶實際測試流程（如“雙85”循環(huán)）。
6. 計量校準：每年由第三方機構(gòu)（如中國計量院）出具校準證書。

7. 常見故障與維護

維護周期：

• 每月：清潔冷凝器、檢查排水管。
• 每季度：校準溫濕度傳感器。
• 每年：更換壓縮機潤滑油。

8. FAQ

Q1：如何選擇設(shè)備容積？
A：試樣總體積≤設(shè)備容積的70%，預(yù)留空氣循環(huán)空間。例如測試10個200mm×200mm的PCB板，需選擇≥ 3的試驗箱。

Q2：設(shè)備精度不足會導(dǎo)致什么后果？
A：溫度偏差±1℃可能使電子元件壽命預(yù)測誤差達30%（參考IEEE 1413標準）。

Q3：是否需要配置數(shù)據(jù)記錄儀？
A：建議選擇帶USB/以太網(wǎng)接口的設(shè)備，實時導(dǎo)出測試曲線（符合GJB 150A要求）。

9. 外部參考

• 中國計量科學研究院：《環(huán)境試驗設(shè)備校準規(guī)范》
• IEEE：IEEE 1413《電子設(shè)備可靠性預(yù)測》
• ISTA：ISTA 3A溫濕度循環(huán)測試標準

10. 聲明

11. JSON-LD