1. 導讀

老化房aging是電子、汽車、新能源等領域高溫環境測試的核心設備，選型需聚焦溫度范圍、控制精度、負載容量等關鍵參數，并嚴格遵循GB/T 2423、IEC 60068等標準。采購中需通過技術協議明確驗收條款，避免因參數虛標或維護缺失導致測試失效。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 老化房aging技術核心與選型邏輯
  • 試驗目的與失效機理
  • 關鍵參數解析表
  • 選型決策流程
• 采購全流程Checklist
• 老化房aging選型對比表
• 常見故障與維護策略
• FAQ
• 外部參考

3. 快速答案卡片

• 選型核心參數：溫度范圍（-70℃~+300℃）、控制精度±1℃、負載容量（按試樣功率密度計算）。
• 價格區間：小型實驗室用老化房（5~20m3）約15萬~50萬元，工業級（50m3以上）80萬~300萬元。
• 推薦標準：GB/T （高溫試驗）、IEC 60068-2-2（國際通用）。
• 避坑要點：拒絕無計量認證廠商，要求提供FAT（工廠驗收測試）報告。

4. 老化房aging技術核心與選型邏輯

試驗目的與失效機理

老化房aging通過模擬高溫環境加速產品（如PCB、電池、電機）的物理/化學退化，暴露以下失效模式：

• 熱應力失效：材料膨脹系數差異導致焊接點開裂（常見于多層PCB）。
• 氧化失效：高溫加速金屬氧化（如鋰離子電池正極材料分解）。
• 參數漂移：半導體器件閾值電壓隨溫度升高而偏移。

典型應用場景：

• 汽車電子：測試ECU在發動機艙高溫（125℃）下的可靠性。
• 新能源電池：驗證電芯在45℃循環充放電中的容量衰減率。
• 消費電子：評估手機主板在85℃存儲72小時后的功能完整性。

關鍵參數解析表

選型決策流程

1. 需求定義：明確試樣尺寸（長×寬×高）、功率密度（W/m3）、測試周期。
   • 示例：測試100塊PCB（單塊功率50W），需計算總負載：100×50W=5kW，選擇負載容量≥8kW的老化房。
2. 參數匹配：根據GB/T 選擇溫度范圍（如85℃/125℃兩檔）。
3. 控制方式選擇：
   • 伺服控制：適合高精度試驗（波動度≤± ℃）。
   • PID控制：成本低，適用于一般工業測試。
4. 廠商評估：要求提供計量證書（CMA/CNAS）及同類客戶案例。

5. 采購全流程Checklist

1. 需求確認：填寫《老化房aging技術需求表》（含溫度、負載、安全要求）。
2. 技術協議：明確驗收標準（如溫度均勻性測試點數≥9點）。
3. 報價對比：要求廠商提供分項報價（設備、運輸、安裝）。
4. FAT/SAT驗收：
   • FAT（工廠驗收）：檢查設備參數是否符合協議。
   • SAT（現場驗收）：模擬實際工況運行48小時。
5. 計量校準：每年由第三方機構（如SGS）進行溫場校準。
6. 維保合同：約定響應時間（如48小時內到場）。

6. 老化房aging選型對比表

7. 常見故障與維護策略

• 故障1：溫度超調
  • 原因：PID參數失調或加熱管老化。
  • 解決：重新整定PID，更換加熱管（需廠商授權）。
• 故障2：傳感器失效
  • 檢測：用標準溫度源（如Fluke 9132）比對。
  • 預防：每季度校準傳感器，備份傳感器庫存。
• 維護周期表：

  項目	頻率	操作內容
  過濾器清潔	每月	清理進風口灰塵
  加熱管檢查	每半年	測量電阻值（偏差＞10%更換）
  制冷劑補充	每年	檢測低壓壓力（需專業資質）

8. FAQ

Q1：老化房aging與恒溫恒濕箱的區別是什么？
A1：老化房側重高溫環境模擬（通常無濕度控制），容積更大（≥5m3）；恒溫恒濕箱可同時控制溫濕度，但容積較小（≤2m3），適用于精密元件測試。

Q2：如何驗證廠商的“控制精度± ℃”是否真實？
A2：要求廠商提供第三方計量報告（如CNAS認證），或自行使用多通道溫度記錄儀（如Omega HH-306A）在滿載工況下測試9個點位的溫度。

Q3：老化房aging的能耗如何計算？
A3：總功率=加熱功率+制冷功率（若具備降溫功能）。示例：100m3老化房，加熱功率約60kW，制冷功率30kW，每小時耗電約60~90kWh（按80%負載率）。

9. 外部參考

• 中國電器科學研究院：《環境試驗設備校準規范》（JJF 1101-2019）
• IEEE：《高溫電子設備可靠性測試指南》（IEEE Std ）

10. 聲明

11. JSON-LD