導讀：

目錄

1. 快速答案卡片
2. 試驗箱技術參數與選型指南
3. 操作流程與關鍵參數設置
4. 常見故障與維護方案
5. 選型對比表
6. 采購與驗收Checklist
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片：

• 選型核心參數：溫度范圍（-70℃~300℃）、濕度范圍（10%~98%RH）、控制精度（± ℃）。
• 典型應用：電子元器件高溫老化、材料熱穩定性測試。
• 關鍵標準：GB/T 、IEC 60068-2-2。
• 維護周期：每3個月清潔風道，每6個月校準傳感器。
• 價格區間：5萬~30萬元（依容積與精度）。

試驗箱技術參數與選型指南

1. 試驗目的與失效機理

HCT試驗箱通過模擬高溫環境（如125℃、150℃），加速產品內部材料老化，驗證其熱穩定性、絕緣性能及機械結構可靠性。典型失效模式包括：

• 電子元器件：焊點熔化、封裝開裂。
• 高分子材料：熱降解、蠕變變形。
• 金屬部件：氧化腐蝕、熱疲勞。

2. 關鍵參數解析表

3. 選型決策流程

1. 需求分析：明確測試樣品尺寸（如PCB板≤500mm×500mm）、溫度范圍（如軍工產品需-55℃~125℃）。
2. 參數匹配：依據GB/T 選擇溫度均勻性≤±2℃的設備。
3. 廠商評估：優先選擇通過ISO 9001認證的廠商（如福建隆安儀器）。
4. 成本優化：小批量測試可選臺式機（容積<100L），批量測試選落地式（容積≥500L）。

4. 詢價模板

操作流程與關鍵參數設置

1. 操作步驟

1. 樣品放置：試樣距箱壁≥100mm，避免遮擋風道。
2. 參數設定：
   • 溫度：125℃（電子元器件典型值）。
   • 持續時間：96h（依據MIL-STD-810G）。
3. 啟動運行：確認安全聯鎖正常后啟動。
4. 數據記錄：每2h記錄一次溫度曲線。

2. 驗收與校準清單

常見故障與維護方案

1. 典型故障表

2. 維護周期表

選型對比表

采購與驗收Checklist

1. 需求確認：明確測試樣品類型、溫度范圍、批量。
2. 技術協議：約定溫度均勻性、升溫速率等指標。
3. FAT/SAT測試：在廠商處（FAT）及用戶現場（SAT）驗證性能。
4. 安裝調試：檢查接地、通風是否符合安全規范。
5. 計量證書：要求廠商提供第三方校準報告。
6. 維保條款：明確保修期（通常1年）、響應時間（≤24h）。

FAQ

Q1：如何選擇適合的試驗箱容積？
A：依據樣品尺寸，單層放置時容積=樣品數量×（長×寬× 倍安全間距）。例如50塊200mm×200mm的PCB板，需容積≥50×( × × )=300L。

Q2：試驗箱溫度波動大怎么辦？
A：檢查PID參數是否失調，或更換精度更高的鉑電阻傳感器（如PT100）。

Q3：高溫老化測試需持續多久？
A：依據標準，電子元器件通常96h（125℃），軍工產品可能需1000h（85℃）。

Q4：如何判斷廠商是否可靠？
A：核查是否通過CNAS認證，查看近3年同類客戶案例（如華為、中興供應商名單）。

Q5：試驗箱與烘箱的區別？
A：試驗箱具備溫度均勻性控制（±2℃）及數據記錄功能，烘箱僅用于簡單干燥（均勻性可能達±10℃）。

外部參考

• 全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術委員會（SAC/TC 8）
• 中國計量科學研究院《環境試驗設備校準規范》