1. 導(dǎo)讀

廣西步入式高溫恒溫老化房是電子、汽車、新能源等行業(yè)進行產(chǎn)品可靠性驗證的核心設(shè)備，其選型需重點關(guān)注溫度均勻性、負(fù)載容量、安全聯(lián)鎖等參數(shù)。建議用戶優(yōu)先選擇符合GB/T 、IEC 60068-2-2等標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備，并通過FAT（工廠驗收測試）與SAT（現(xiàn)場驗收測試）確保性能達(dá)標(biāo)。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 一、設(shè)備核心參數(shù)與技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
  • 關(guān)鍵參數(shù)解析表
  • 適用標(biāo)準(zhǔn)與失效機理
• 二、選型決策流程與橫評表
  • 選型決策四步法
  • 主流廠商設(shè)備橫評表
• 三、采購全流程Checklist
• 四、常見故障與維護
• 五、FAQ
• 六、外部參考
• 七、聲明

3. 快速答案卡片

4. 正文結(jié)構(gòu)

一、設(shè)備核心參數(shù)與技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

關(guān)鍵參數(shù)解析表

實操建議：

• 試樣尺寸超過1m3時，優(yōu)先選擇風(fēng)道循環(huán)設(shè)計設(shè)備；
• 采樣率≥1次/秒可捕捉瞬態(tài)溫度波動。

適用標(biāo)準(zhǔn)與失效機理

• 核心標(biāo)準(zhǔn)：
  • GB/T 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》
  • IEC 60068-2-2:2007《環(huán)境測試 第2-2部分：試驗 試驗B：干熱》
• 失效機理：
  • 電子元件：焊點虛脫、電容爆裂（溫度＞125℃時風(fēng)險激增）；
  • 電池：SEI膜分解（＞60℃）、熱失控（＞85℃）。

案例：2025年某新能源車企因老化房溫度均勻性超差（實測±5℃），導(dǎo)致電池模組測試數(shù)據(jù)失真，延誤產(chǎn)品上市3個月。

二、選型決策流程與橫評表

選型決策四步法

1. 需求定義：明確試樣類型（PCB/電池/電機）、測試溫度曲線（恒溫/階梯升溫）；
2. 參數(shù)匹配：根據(jù)負(fù)載重量選擇設(shè)備功率（每kg負(fù)載約需 加熱能力）；
3. 廠商篩選：核查資質(zhì)（ISO 9001認(rèn)證）、案例（至少3個同行業(yè)項目）；
4. 成本驗證：總成本=設(shè)備價+安裝費+年維護費（約占設(shè)備價5%）。

詢價模板：

主流廠商設(shè)備橫評表

三、采購全流程Checklist

四、常見故障與維護

• 故障1：溫度超調(diào)
  • 原因：PID參數(shù)失調(diào)、加熱管老化；
  • 解決：重新整定PID，更換加熱管（壽命約8000小時）。
• 故障2：傳感器漂移
  • 驗證：用標(biāo)準(zhǔn)溫度源（如Fluke 9142）比對；
  • 處理：每年校準(zhǔn)1次，誤差＞ ℃時更換。

維護周期表：

5. 選型對比表

（已整合至 節(jié)橫評表）

6. 采購與驗收 Checklist

（已整合至三節(jié)Checklist）

7. FAQ

Q1：廣西地區(qū)選購老化房需注意哪些氣候適應(yīng)性？
A：廣西年均濕度70%~85%，需選擇帶濕度控制的設(shè)備（如南寧環(huán)試型號），避免試樣凝露導(dǎo)致測試偏差。

Q2：如何驗證設(shè)備溫度均勻性？
A：按GB/T 要求，在空載和滿載狀態(tài)下，用9點法測量空間溫度，最大溫差應(yīng)≤±2℃。

Q3：二手設(shè)備能否購買？
A：不建議。二手設(shè)備控制精度下降30%以上，且缺乏原廠維保記錄，故障率是新設(shè)備的 倍（據(jù)2025年環(huán)試協(xié)會統(tǒng)計）。

Q4：進口與國產(chǎn)設(shè)備如何選擇？
A：進口設(shè)備（如德國Weiss）精度更高（± ℃），但價格是國產(chǎn)的2~3倍；國產(chǎn)設(shè)備（如桂林電科所）可滿足90%的工業(yè)需求。

Q5：設(shè)備校準(zhǔn)周期多長？
A：每年至少1次，涉及安全認(rèn)證的產(chǎn)品（如汽車電子）需每半年校準(zhǔn)1次（參考IATF 16949要求）。

8. 外部參考

• 全國工業(yè)機械電氣系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會《環(huán)境試驗設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》
• 中國電器科學(xué)研究院《高溫老化試驗失效分析報告（2025）》