導讀：

36L高低溫循環試驗箱是電子、汽車、軍工等領域高溫老化測試的核心設備，選型需重點關注溫度范圍、負載能力、控制精度及安全標準。用戶應通過技術協議明確參數邊界，優先選擇符合GB/T 2423、IEC 60068等標準的廠商，避免因參數虛標或服務缺失導致測試失效。

目錄：

1. 快速答案卡片
2. 核心參數與技術指導
3. 選型決策流程
4. 采購全流程Checklist
5. 36L高低溫循環試驗箱選型橫評表
6. 常見故障與維護
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片：

核心參數與技術指導：

1. 試驗目的與失效機理

36L試驗箱主要用于模擬高溫老化環境（如電子元器件焊點氧化、塑料材料蠕變、電池熱失控），通過循環溫度沖擊（如-40℃~+85℃）加速材料劣化，驗證產品壽命。典型失效模式包括：

• 金屬部件：焊點微裂紋擴展（Sn-Ag-Cu焊料在125℃下2000h后剪切強度下降30%）
• 高分子材料：聚碳酸酯（PC）在100℃下72h后沖擊強度下降45%
• 鋰電池：85℃存儲7天后容量衰減率≥5%（依據GB/T 31485）

2. 關鍵參數解析表

3. 適用標準與邊界

• GB/T ：電工電子產品環境試驗 第2部分：高溫試驗（操作/存儲）
• IEC 60068-2-2：國際電工委員會高溫測試方法（適用于出口產品）
• MIL-STD-810G：美軍標高溫測試（要求-65℃~+175℃極端條件）

邊界說明：包裝運輸測試需結合ISTA 3A標準，倉儲測試需疊加濕度控制（如85%RH@85℃）。

選型決策流程：

1. 需求確認：明確測試對象（如PCB板尺寸≤300mm×200mm）、循環次數（≥100次）、記錄間隔（≥1次/min）
2. 參數匹配：根據試樣質量選擇制冷功率（每kg負載需 制冷量）
3. 控制方式選擇：
   • 伺服控制：適用于高精度需求（如半導體芯片測試）
   • PID調節：適用于常規老化（如連接器插拔力測試）
4. 廠商評估：要求提供第三方校準證書（如CNAS認可實驗室出具）

詢價模板：

采購全流程Checklist：

36L高低溫循環試驗箱選型橫評表：

常見故障與維護：

1. 溫度超調：原因多為PID參數失調或傳感器老化，需重新整定參數并更換PT100探頭。
2. 制冷不足：檢查冷凝器積塵（每季度清洗）、制冷劑泄漏（需專業檢漏儀檢測）。
3. 門封漏氣：更換硅膠門封條（年損耗率約15%），確保門鎖壓力≥50N。

FAQ：

Q1：36L試驗箱能否測試整車零部件？
A：不可直接測試。36L容積僅適用于小型電子模塊（如ECU尺寸≤200mm×150mm），整車零部件需選用1m3以上試驗箱。

Q2：如何驗證溫度均勻性？
A：按GB/T ，在箱內布置9個測溫點（中心+四角+四邊中點），空載運行至穩定狀態后，記錄1h內各點溫度極差應≤2℃。

Q3：進口與國產設備如何選擇？
A：若測試標準包含MIL-STD-810G或需長期連續運行（＞5000h/年），優先選進口設備；常規老化測試可選國產中端機型，成本降低40%~60%。

外部參考：

• 全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術委員會（SAC/TC 8）
• 中國計量科學研究院（環境試驗設備校準指南）