導讀

重慶傳感器技術試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設備，選型需重點關注溫度范圍、控制精度及安全聯(lián)鎖設計。工程師需結合IEC 60068-2-2等標準，通過參數比對、FAT/SAT驗收及定期計量確保設備可靠性，避免因選型失誤或維護不當導致測試數據失效。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 試驗箱技術核心與選型邏輯
3. 選型參數決策流程表
4. 采購全流程Checklist
5. 選型對比表
6. 常見故障與維護方案
7. FAQ
8. 外部參考
9. 聲明

快速答案卡片

一、試驗箱技術核心與選型邏輯

試驗目的：模擬傳感器在高溫環(huán)境下的長期工作狀態(tài)，驗證其性能衰減、封裝密封性及電路穩(wěn)定性，典型應用場景包括汽車電子傳感器（如發(fā)動機溫度傳感器）、工業(yè)物聯(lián)網節(jié)點及航空航天傳感器。

失效機理：

• 熱應力導致封裝開裂：高分子材料（如環(huán)氧樹脂）在150℃以上持續(xù)老化，引發(fā)密封失效。
• 金屬疲勞：引腳與PCB焊點在熱循環(huán)中產生微裂紋，導致接觸電阻上升。
• 半導體參數漂移：CMOS器件閾值電壓隨溫度升高發(fā)生偏移，影響信號精度。

關鍵參數：

• 溫度范圍：需覆蓋傳感器實際工作上限+20%冗余（如汽車傳感器工作上限125℃，試驗箱需達150℃）。
• 溫度均勻性：依據IEC 60068-2-2，工作區(qū)任意兩點溫差≤±2℃（容積1m3以下設備）。
• 控制方式：伺服控制優(yōu)于PID控制，響應速度提升40%，適合動態(tài)溫度沖擊試驗。
• 安全聯(lián)鎖：必須包含超溫切斷、通風故障報警及門鎖互鎖功能（防止誤開箱導致燙傷）。

二、選型參數決策流程表

三、采購全流程Checklist

1. 需求階段：聯(lián)合研發(fā)、質量部門確定測試溫度曲線（如-40℃~+125℃循環(huán)，每次循環(huán)4小時）。
2. 技術協(xié)議：明確驗收標準（如溫度波動度≤± ℃）、故障響應時間（≤4小時）。
3. 報價對比：剔除含隱形費用（如運輸保險、安裝調試費需單獨列項）的報價。
4. FAT/SAT：
   • FAT（工廠驗收）：檢查溫度傳感器校準證書（有效期1年）、安全聯(lián)鎖功能。
   • SAT（現(xiàn)場驗收）：模擬實際工況運行72小時，記錄溫度偏差數據。
5. 計量校準：每年委托第三方機構（如中國計量科學研究院）進行計量，出具CNAS證書。

四、選型對比表

五、常見故障與維護方案

六、FAQ

Q1：如何判斷試驗箱溫度均勻性是否達標？
A1：依據IEC 60068-2-2，在工作區(qū)中心及四角布置5支校準過的鉑電阻傳感器，連續(xù)記錄1小時數據，計算最大溫差。若超過±2℃，需調整風道或更換循環(huán)風機。

Q2：試驗箱能否直接用于濕度試驗？
A2：需確認設備是否配備加濕/除濕系統(tǒng)。若僅標注溫度范圍（如-70℃~+300℃），則無法進行濕度試驗，需選擇帶濕度控制功能的型號（如隆安LX-300）。

Q3：設備運行中突然停電怎么辦？
A3：立即關閉總電源，待恢復供電后，先開啟通風系統(tǒng)10分鐘再重啟加熱。若停電超過30分鐘，需重新進行預處理（如-40℃環(huán)境放置2小時）。

七、外部參考

• 中國計量科學研究院：設備校準規(guī)范欄目
• IEC國際電工委員會：IEC 60068系列環(huán)境試驗標準
• 全國電工電子產品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會：GB/T 2423標準解讀

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