1. 導(dǎo)讀

電腦高溫恒溫試驗箱是電子元器件、整機及材料高溫老化測試的核心設(shè)備，其正確使用需結(jié)合選型參數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性及安全操作規(guī)范。用戶需重點關(guān)注溫度均勻性、控制精度、負(fù)載能力及安全聯(lián)鎖設(shè)計，避免因參數(shù)誤選或操作不當(dāng)導(dǎo)致測試失效或設(shè)備損壞。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 試驗箱核心參數(shù)與技術(shù)要求
• 選型決策流程與關(guān)鍵指標(biāo)
• 實操步驟與安全規(guī)范
• 故障診斷與維護要點
• 選型對比表
• 采購全流程Checklist
• FAQ
• 外部參考

3. 快速答案卡片

問題：電腦高溫恒溫試驗箱怎么用？
答案：

1. 選型：根據(jù)試樣尺寸、溫度范圍（如-70℃~+300℃）、控制精度（± ℃）及負(fù)載能力（如50kg）選擇型號。
2. 操作：預(yù)加熱至設(shè)定溫度→放置試樣→啟動程序→監(jiān)控數(shù)據(jù)→結(jié)束冷卻。
3. 標(biāo)準(zhǔn)：遵循GB/T 、IEC 60068-2-2等高溫試驗規(guī)范。
4. 維護：每月清潔冷凝器，每季度校準(zhǔn)溫度傳感器。

4. 正文結(jié)構(gòu)

試驗箱核心參數(shù)與技術(shù)要求

典型工況關(guān)鍵參數(shù)：

適用標(biāo)準(zhǔn)與條款：

• GB/T ：電工電子產(chǎn)品高溫試驗方法（Bd類）。
• IEC 60068-2-2：國際電工委員會高溫測試標(biāo)準(zhǔn)。
• MIL-STD-810G：軍用設(shè)備高溫存儲/工作測試（方法 ）。

選型決策流程與關(guān)鍵指標(biāo)

步驟1：明確測試需求

• 試樣類型：PCB板（尺寸≤500×500mm）、整機（負(fù)載≤100kg）、電池（需防爆設(shè)計）。
• 測試目的：高溫存儲（長期）、高溫工作（帶電）、快速溫變（循環(huán)）。

步驟2：參數(shù)匹配表

步驟3：詢價模板

實操步驟與安全規(guī)范

操作流程：

1. 預(yù)檢查：確認(rèn)電源（380V三相電）、接地、冷卻水（水冷型）。
2. 預(yù)加熱：空載運行至設(shè)定溫度（如+120℃），穩(wěn)定30分鐘。
3. 放置試樣：試樣間距≥50mm，避免遮擋風(fēng)道。
4. 啟動程序：設(shè)置溫度、時間、升溫速率（如5℃/min）。
5. 數(shù)據(jù)記錄：通過RS485/USB導(dǎo)出溫度曲線。
6. 結(jié)束冷卻：自然降溫或強制通風(fēng)（禁止開箱急冷）。

安全規(guī)范：

• 禁止放置易燃物，超溫時立即觸發(fā)急停按鈕。
• 操作人員需佩戴防熱手套及護目鏡。

故障診斷與維護要點

常見故障與解決方案：

維護周期表：

5. 選型對比表

6. 采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：明確測試對象、溫度范圍、精度、容積。
2. 技術(shù)協(xié)議：約定參數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)、交付周期、違約責(zé)任。
3. 報價對比：至少3家供應(yīng)商，優(yōu)先選擇有CNAS認(rèn)證實驗室的廠商。
4. FAT/SAT：工廠驗收（FAT）測試溫度均勻性，現(xiàn)場驗收（SAT）確認(rèn)安裝環(huán)境。
5. 計量校準(zhǔn)：委托第三方機構(gòu)（如中國計量科學(xué)研究院）出具校準(zhǔn)證書。
6. 維保合同：明確響應(yīng)時間（如4小時）、備件庫存。

7. FAQ

Q1：高溫試驗箱能否測試帶電樣品？
A：可以，但需選擇帶電測試型號（如隆安LH-800E），并確保絕緣電阻≥500MΩ，避免短路風(fēng)險。

Q2：如何判斷設(shè)備溫度均勻性是否達標(biāo)？
A：按GB/T ，在空載狀態(tài)下布置9個測溫點，運行1小時后計算最大溫差，≤2℃為合格。

Q3：試驗箱價格差異大的原因是什么？
A：核心差異在于控制精度（± ℃比±1℃貴30%）、材質(zhì)（不銹鋼內(nèi)膽比鍍鋅板貴20%）及附加功能（如濕度控制）。

Q4：設(shè)備報警“超溫”但實際溫度未達設(shè)定值，如何處理？
A：檢查溫度傳感器是否松動，或控制板參數(shù)是否被誤修改，必要時聯(lián)系廠商遠(yuǎn)程診斷。

Q5：試驗箱能否改裝為高低溫沖擊箱？
A：不可直接改裝，需更換兩槽式結(jié)構(gòu)及快速移動試樣裝置，成本約為新購高低溫沖擊箱的70%。

8. 外部參考

• 中國計量科學(xué)研究院：《環(huán)境試驗設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》欄目
• IEEE Xplore：高溫老化對電子元件失效機理的研究論文