導讀

HAST高壓加速老化箱通過高溫、高濕、高壓環境模擬加速材料失效，核心原理為“溫度-濕度-壓力”協同作用，適用于半導體、電子元器件、汽車電子等領域的可靠性測試。選型需重點關注溫度/濕度控制精度、壓力范圍、安全聯鎖設計，采購需遵循技術協議簽訂、FAT/SAT驗收等流程，避免因參數虛標或設計缺陷導致測試失效。

目錄

1. 快速答案卡片
2. HAST工作原理與技術核心
3. 選型決策流程與參數表
4. 采購全流程Checklist
5. 選型對比表
6. 常見故障與維護
7. FAQ
8. 外部參考
9. 聲明

快速答案卡片

HAST工作原理與技術核心

1. 失效加速機理

HAST通過提升環境應力（溫度、濕度、壓力）縮短材料失效周期，其加速因子（AF）公式為：
AF = exp[(Ea/k)·(1/T? - 1/T?)]
（Ea為活化能，k為玻爾茲曼常數，T?/T?為參考/測試溫度）
例如：某塑料件在125℃下AF=50，即1天測試等效50天自然老化。

2. 典型工況參數

3. 安全聯鎖設計

• 壓力保護：雙壓力傳感器互鎖，超壓自動泄壓（響應時間≤ ）。
• 溫度保護：獨立溫控模塊，超溫切斷加熱（閾值可設）。
• 門鎖保護：運行中門鎖機械鎖定，防止誤開。

選型決策流程與參數表

選型步驟

1. 明確測試需求：材料類型（半導體/塑料/金屬）、失效模式（腐蝕/開裂/電遷移）。
2. 確定關鍵參數：溫度/濕度/壓力范圍、控制精度、試樣尺寸（標準腔體：Φ300mm×H200mm）。
3. 驗證安全設計：查看壓力泄放閥認證（如UL認證）、門鎖機械結構。
4. 評估廠商資質：是否通過ISO 17025實驗室認可、是否有第三方校準報告。

參數解釋表

采購全流程Checklist

1. 需求確認：填寫《HAST測試需求表》（含試樣數量、測試周期、失效標準）。
2. 技術協議：明確參數偏差范圍（如溫度± ℃視為不合格）、驗收測試項。
3. 報價對比：要求提供分項報價（設備本體、安裝調試、培訓費用）。
4. FAT/SAT驗收：
   • FAT（工廠驗收）：空載運行72小時，記錄溫度/濕度波動。
   • SAT（現場驗收）：帶載測試，驗證安全聯鎖功能。
5. 計量校準：每年送第三方機構校準（如CNAS認可實驗室），保存校準證書。

選型對比表

常見故障與維護

FAQ

Q1：HAST與THB（高溫高濕偏置）測試的區別？
A1：HAST通過高壓（≥2atm）加速水汽滲透，測試周期縮短至96~500小時；THB僅在常壓下測試，周期需1000小時以上。HAST更適用于快速篩選失效模式。

Q2：如何判斷廠商是否靠譜？
A2：查看其是否提供設備校準記錄、是否有行業頭部客戶案例（如華為、英特爾）、是否支持FAT/SAT驗收。

Q3：HAST測試是否需要特殊試樣準備？
A3：需對試樣進行預處理（如清洗、干燥），避免表面污染物影響測試結果。金屬試樣需做鈍化處理。

Q4：設備壽命一般多久？
A4：核心部件（如壓力容器）設計壽命≥10年，但需每年更換密封圈、清洗水路。日常維護可延長至15年。

Q5：HAST測試能否替代自然老化？
A5：僅適用于加速驗證設計缺陷，無法完全模擬自然環境中的復合應力（如紫外線、機械振動）。需結合其他測試。

外部參考

• 機構：美國電子設備工程協會（JEDEC）
  欄目：JESD22-A110《高壓蒸煮測試標準》
• 機構：國際電工委員會（IEC）
  欄目：IEC 60749-20《半導體器件機械和環境試驗》