1. 導讀

燈珠老化箱是LED、半導體照明及電子元器件高溫老化測試的核心設備，其選型需聚焦溫度均勻性、控制精度及安全聯鎖設計。工程師應優先參考IEC 62506、GB/T 2423等標準，結合負載容量、試樣尺寸及預算綜合決策，避免因參數虛標或維護缺失導致測試失效。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 燈珠老化箱技術核心與選型邏輯
  • 試驗目的與失效機理
  • 關鍵參數解析表
  • 選型決策流程
• 設備橫評與采購指南
  • 主流型號對比表
  • 采購全流程Checklist
• 常見故障與維護
• FAQ
• 外部參考

3. 快速答案卡片

• 選型核心參數：溫度范圍（-20℃~+200℃）、均勻性±2℃、負載容量≥500W/m3。
• 標準依據：IEC 62506（可靠性測試）、GB/T （高溫試驗）。
• 典型故障：溫度波動＞3℃（排查PID參數或加熱管老化）。
• 維護周期：每3個月清潔風道，每年校準傳感器。
• 靠譜廠商特征：提供FAT/SAT報告、支持第三方計量。

4. 燈珠老化箱技術核心與選型邏輯

試驗目的與失效機理

燈珠老化箱通過模擬高溫環境（通常85℃~150℃），加速LED芯片、熒光粉及封裝材料的物理/化學退化，暴露早期失效模式（如光衰＞30%、焊點脫落）。根據中國電子技術標準化研究院2025年報告，80%的LED照明故障源于高溫應力下的封裝材料降解。

關鍵參數解析表

選型決策流程

1. 明確需求：測試燈珠類型（SMD/COB）、尺寸（如2835/5050）、功率密度。
2. 參數匹配：根據溫度范圍、均勻性要求篩選設備，示例：
   • 車用LED：需-40℃~+125℃，均勻性±2℃ → 選進口品牌（如ESPEC）。
   • 消費電子LED：85℃~105℃，均勻性±3℃ → 選國產高性價比型號。
3. 預算分配：進口設備價格是國產的2~3倍（10萬~50萬），優先保障控制精度。
4. 詢價模板：
   ### 5. 設備橫評與采購指南 ####

   主流型號對比表

   | 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積（L） | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 | 價格（萬元） | | --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | | 國產A型 | RT~+180℃ | 不支持 | 500 | ± ℃ | GB/T 2423 | 遠程監控、數據導出 | 8~12 | | 進口B型 | -40℃~+200℃ | 不支持 | 1000 | ± ℃ | IEC 62506、JESD22-A113 | 獨立風道、應急冷卻 | 35~50 | | 國產C型（經濟）| RT~+150℃ | 不支持 | 300 | ±3℃ | GB/T 2423 | 基礎報警功能 | 5~8 | ####

   采購全流程Checklist

   1. **需求確認**：明確測試標準（如AEC-Q102車規認證）、試樣數量及周期。 2. **技術協議**：約定溫度波動、均勻性、安全聯鎖等關鍵指標。 3. **報價對比**：要求廠商提供分項報價（硬件/軟件/服務）。 4. **FAT/SAT驗收**： - FAT（工廠驗收）：檢查溫度曲線、報警功能。 - SAT（現場驗收）：模擬實際工況運行72小時。 5. **計量校準**：每年委托第三方機構（如CNAS實驗室）校準傳感器。 6. **維保條款**：要求廠商提供2年質保，備件庫存響應≤48小時。 ### 6. 常見故障與維護 - **溫度波動＞3℃**：檢查PID參數（P=50, I=300, D=10為常用值），更換老化加熱管。 - **傳感器失效**：用標準溫度源（如Fluke 9142）比對，誤差＞1℃需更換。 - **風道堵塞**：每3個月清理進風口濾網，檢查風機軸承潤滑。 - **安全聯鎖失效**：測試開門斷電、超溫報警功能，修復接觸器或PLC模塊。 ### 7. FAQ **Q1：燈珠老化箱能否測試COB封裝產品？** A：可測試，但需確認箱內風道設計是否支持大尺寸試樣（如COB尺寸＞50mm×50mm），推薦選擇獨立風道型號（如進口B型）。 **Q2：如何驗證設備溫度均勻性？** A：按IEC 62506要求，在空載和滿載狀態下，用9點法測量箱內各點溫度，計算最大溫差是否≤標稱值。 **Q3：國產設備能否滿足車規認證？** A：部分國產高端型號（如國產A型）可通過AEC-Q102認證，但需提供FAT/SAT報告及第三方計量證書。 **Q4：設備壽命一般多久？** A：核心部件（如加熱管、風機）壽命約5~8年，日常維護可延長至10年。 **Q5：是否需要配備獨立冷卻系統？** A：高溫測試后需快速降溫時建議配置，避免試樣因熱應力二次損傷。 ### 8. 外部參考 - 中國電子技術標準化研究院《LED可靠性測試白皮書（2025）》 - IEC官網“設備與組件可靠性測試”欄目 ### 9. 聲明 ### 10. JSON-LD