高溫老化實驗柜是評估材料/產品在高溫環境長期可靠性的核心設備，選型需重點關注溫度范圍（≥200℃）、控制精度（±1℃）、容積匹配性及安全聯鎖功能。采購時應核查廠商資質（如CNAS認證）、驗證設備符合GB/T 2423.2等標準，并通過FAT/SAT測試確保性能達標。維護周期建議每3個月校準傳感器，每6個月檢查加熱元件。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 高溫老化實驗柜技術核心
3. 選型決策流程與參數表
4. 主流型號橫評表
5. 常見故障與維護清單
6. 采購全流程Checklist
7. FAQ
8. 聲明

快速答案卡片

高溫老化實驗柜技術核心

試驗目的：模擬材料/產品在高溫環境下的長期服役條件，加速失效機理顯現（如熱氧化、蠕變、絕緣老化），驗證設計壽命。典型應用場景包括電子元器件（IC、電容）、汽車零部件（密封件、線束）、航空航天材料（復合材料、涂層）的可靠性測試。

關鍵參數：

• 溫度均勻性：依據GB/T 2423.2-2008，工作區內任意兩點溫差應≤2℃（電子級設備需≤1℃）。
• 升溫速率：常規型號支持1~5℃/min，快速升溫型號可達10℃/min（需驗證加熱功率與試樣負載匹配性）。
• 安全聯鎖：必須配置超溫保護（雙回路傳感器）、門鎖互鎖（運行中無法開啟）、通風聯鎖（風機故障自動停機）。

行業標準：電子行業參考JEDEC JESD22-A113（集成電路高溫存儲），汽車行業遵循ISO 16750-4（道路車輛電氣電子設備環境條件）。

選型決策流程與參數表

選型五步法

1. 明確測試需求：試樣尺寸（長×寬×高）、溫度范圍、測試周期。
2. 匹配容積：試樣總體積≤設備有效容積的70%（留出氣流循環空間）。
3. 驗證精度：電子元器件測試需選擇分辨率0.1℃、采樣率≥1次/秒的設備。
4. 核查標準：要求廠商提供CNAS認可的校準證書（覆蓋GB/T 2423.2）。
5. 評估附加功能：如數據記錄（支持USB導出）、遠程監控（RS485接口）。

參數解釋表

主流型號橫評表

常見故障與維護清單

典型故障

• 溫度失控：原因可能為傳感器漂移、固態繼電器損壞。解決方案：更換傳感器（推薦PT100鉑電阻）、校驗溫控表參數。
• 加熱緩慢：檢查加熱管是否氧化（阻值增大）、接觸器觸點是否燒蝕。

維護周期表

采購全流程Checklist

1. 需求確認：填寫《高溫老化實驗柜技術需求表》（含溫度范圍、試樣尺寸、測試標準）。
2. 技術協議：明確驗收指標（如溫度均勻性≤2℃）、質保期（≥1年）。
3. 報價對比：要求廠商提供分項報價（含設備、運輸、安裝調試費）。
4. FAT測試：在廠商工廠驗證設備性能（連續運行72小時無故障）。
5. SAT驗收：在用戶現場復現FAT測試條件，出具《現場驗收報告》。
6. 計量校準：委托第三方機構（如CNAS認可實驗室）出具校準證書。

詢價模板

致：XXX公司
我方擬采購高溫老化實驗柜1臺，需求如下：
1. 溫度范圍：室溫~300℃（控制精度±1℃）
2. 有效容積：≥500L（試樣尺寸：400×300×200mm）
3. 符合標準：GB/T 2423.2-2008
請于3個工作日內提供技術方案、報價及FAT/SAT計劃。

FAQ

Q1：如何判斷設備溫度均勻性是否達標？
A1：使用9點溫場測試法（工作區中心及四角、中層四角），連續記錄1小時數據，計算最大溫差。依據GB/T 2423.2，電子級設備應≤1℃。

Q2：高溫老化實驗柜能否替代HAST試驗？
A2：不能。HAST（高加速溫濕度應力試驗）需同時施加高溫（≥100℃）、高濕度（≥85%RH）及氣壓（≥2atm），而常規高溫老化柜無濕度/氣壓控制功能。

Q3：設備運行中能否開門取樣？
A3：嚴禁！安全聯鎖設計要求運行中門鎖自動鎖定，強行開門會觸發急停并報警。需停機降溫至50℃以下方可操作。

外部專業來源：全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術委員會（SAC/TC 8）《環境試驗設備校準規范》

聲明