雷達(dá)恒溫老化試驗(yàn)箱用于模擬高溫環(huán)境下的雷達(dá)組件可靠性測試，關(guān)鍵參數(shù)包括溫度范圍（-70℃~+200℃）、控制精度（±0.5℃）、負(fù)載容量（≥50kg）。選型需結(jié)合試樣尺寸、標(biāo)準(zhǔn)（如GJB 150.16A）、預(yù)算及廠商資質(zhì)。采購需經(jīng)歷需求確認(rèn)、技術(shù)協(xié)議簽訂、FAT/SAT驗(yàn)收等流程，避免低價(jià)陷阱和虛標(biāo)參數(shù)。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 操作流程與技術(shù)參數(shù)
3. 選型決策與參數(shù)對比
4. 主流廠商對比
5. 常見故障與維護(hù)
6. 采購全流程Checklist
7. FAQ
8. 聲明

快速答案卡片

操作流程與技術(shù)參數(shù)

典型工況與失效機(jī)理

雷達(dá)組件在高溫老化中主要失效模式包括：

• 焊點(diǎn)虛焊（溫度循環(huán)導(dǎo)致熱應(yīng)力）
• 塑料件變形（玻璃化轉(zhuǎn)變溫度以下）
• 電容漏電（介電常數(shù)變化）
• 密封件失效（橡膠硫化）

關(guān)鍵參數(shù)表

操作流程

1. 試樣準(zhǔn)備：清潔表面，固定于測試架（間距≥10cm）
2. 參數(shù)設(shè)置：
   • 溫度曲線：恒溫/階梯升溫（如+85℃×48h）
   • 通風(fēng)量：5~20次/小時(shí)（依試樣發(fā)熱量）
3. 啟動(dòng)測試：
   • 預(yù)加熱至設(shè)定值（誤差≤1℃）
   • 記錄初始數(shù)據(jù)（電阻、介電常數(shù)）
4. 過程監(jiān)控：
   • 每4小時(shí)記錄一次溫濕度
   • 異常時(shí)觸發(fā)自動(dòng)停機(jī)
5. 測試終止：
   • 達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)間或發(fā)生失效（如開路）

選型決策與參數(shù)對比

選型決策流程

1. 需求分析：
   • 試樣尺寸（長×寬×高）
   • 測試標(biāo)準(zhǔn)（軍用/民用）
   • 預(yù)算范圍
2. 參數(shù)匹配：
   • 溫度范圍覆蓋測試需求
   • 負(fù)載容量≥試樣總重×1.2
3. 廠商評估：
   • 資質(zhì)（CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證）
   • 案例（軍工/航空領(lǐng)域經(jīng)驗(yàn)）

詢價(jià)模板

致XX公司：
我方需采購雷達(dá)恒溫老化試驗(yàn)箱，要求如下：
1. 溫度范圍：-70℃~+180℃
2. 負(fù)載容量：≥100kg
3. 符合標(biāo)準(zhǔn)：GJB 150.16A
請?zhí)峁┘夹g(shù)方案、報(bào)價(jià)及交付周期。

驗(yàn)收與校準(zhǔn)清單

主流廠商對比

常見故障與維護(hù)

典型故障

1. 溫度波動(dòng)大：
   • 原因：加熱管老化、傳感器偏移
   • 解決：更換加熱管、校準(zhǔn)傳感器
2. 超溫報(bào)警：
   • 原因：通風(fēng)口堵塞、控制板故障
   • 解決：清理通風(fēng)道、更換控制板

維護(hù)周期表

采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：
   • 填寫《技術(shù)需求表》（含溫度范圍、負(fù)載等）
2. 技術(shù)協(xié)議：
   • 明確驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、違約責(zé)任
3. 報(bào)價(jià)對比：
   • 至少3家廠商報(bào)價(jià)，分析配置差異
4. FAT/SAT驗(yàn)收：
   • 工廠驗(yàn)收（FAT）：空載/負(fù)載測試
   • 現(xiàn)場驗(yàn)收（SAT）：模擬實(shí)際工況
5. 計(jì)量認(rèn)證：
   • 委托第三方機(jī)構(gòu)（如CNAS實(shí)驗(yàn)室）出具校準(zhǔn)證書
6. 維保合同：
   • 明確響應(yīng)時(shí)間（如≤4小時(shí)）、備件庫存

FAQ

Q1：如何選擇溫度范圍？

A：依據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)（如GJB 150.16A要求+125℃），并預(yù)留20%余量。例如，標(biāo)準(zhǔn)要求+125℃，則設(shè)備上限需≥150℃。

Q2：低價(jià)設(shè)備能否使用？

A：需謹(jǐn)慎。低價(jià)設(shè)備可能虛標(biāo)參數(shù)（如標(biāo)稱±0.5℃，實(shí)測±2℃），導(dǎo)致測試無效。建議要求廠商提供CNAS校準(zhǔn)報(bào)告。

Q3：是否需要濕度控制？

A：雷達(dá)組件高溫測試通常無需濕度控制。若需濕熱交替測試，需選擇溫濕度復(fù)合試驗(yàn)箱（價(jià)格增加30%~50%）。

Q4：進(jìn)口設(shè)備是否更優(yōu)？

A：不一定。國產(chǎn)設(shè)備（如重慶四達(dá)）在軍用領(lǐng)域市占率超60%，性價(jià)比更高。進(jìn)口設(shè)備（如美國Q-Lab）交付周期長（≥6個(gè)月）。

Q5：驗(yàn)收時(shí)發(fā)現(xiàn)溫度偏差超標(biāo)怎么辦？

A：立即終止驗(yàn)收，要求廠商：

1. 提供校準(zhǔn)記錄
2. 更換溫度控制器
3. 重新進(jìn)行空載/負(fù)載測試

外部專業(yè)來源

• 中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》
• 全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（SAC/TC8）

聲明