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金華電子產(chǎn)品老化箱銷售-金華老化箱品質(zhì)優(yōu)銷

隆安
2025-12-05 14:00:01
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內(nèi)容摘要：金華地區(qū)電子產(chǎn)品老化箱采購需重點關(guān)注溫度均勻性、控制精度及安全聯(lián)鎖設(shè)計。建議優(yōu)先選擇符合GB/T 2423.2-2008標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備，通過FAT/SAT驗收確保性能達標(biāo)。采...

老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家

隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！馬上咨詢

金華地區(qū)電子產(chǎn)品老化箱采購需重點關(guān)注溫度均勻性、控制精度及安全聯(lián)鎖設(shè)計。建議優(yōu)先選擇符合GB/T 2423.2-2008標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備，通過FAT/SAT驗收確保性能達標(biāo)。采購時應(yīng)核查廠商資質(zhì)，避免選擇無計量認(rèn)證的供應(yīng)商。

快速答案卡片

核心問題	答案
金華老化箱選型關(guān)鍵參數(shù)	溫度范圍（常溫+20℃~300℃）、均勻性±2℃、分辨率0.1℃
推薦標(biāo)準(zhǔn)	GB/T 2423.2-2008、IEC 60068-2-2
價格區(qū)間	3萬~15萬元（依容積與精度浮動）
驗收重點	空載/滿載溫度均勻性測試、安全聯(lián)鎖功能驗證

選型決策流程

需求確認(rèn)：明確測試對象（PCB/電源模塊/LED驅(qū)動）、負(fù)載功率（單板≤500W/整機≤3kW）、試樣尺寸（標(biāo)準(zhǔn)托盤500×400mm）

參數(shù)匹配：

參數(shù)	小型設(shè)備（≤0.5m3）	中型設(shè)備（0.5~2m3）	大型設(shè)備（≥2m3）
溫度范圍	RT+20~150℃	RT+20~200℃	RT+20~300℃
升溫速率	3℃/min	5℃/min	8℃/min
控制方式	PID溫控	PLC+觸摸屏	工業(yè)計算機

廠商篩選：核查CMA計量認(rèn)證、ISO 9001體系、近3年同類設(shè)備交付案例（如2025年橫店東磁集團采購記錄）

詢價模板：

致XX公司：
需采購1臺0.8m3老化箱，要求：
- 溫度范圍：RT+20~250℃
- 均勻性：≤±2.5℃
- 負(fù)載：2kW
- 符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2
請?zhí)峁┘夹g(shù)方案、報價及FAT計劃。

關(guān)鍵參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)解析

核心參數(shù)表

參數(shù)	定義	典型值	失效影響
溫度均勻性	工作空間內(nèi)最大溫差	±2℃	導(dǎo)致局部過試/欠試
溫度波動度	設(shè)定值±偏差	±0.5℃	影響測試重復(fù)性
升溫速率	空載從RT到最高溫時間	5℃/min	過長增加測試周期
安全聯(lián)鎖	超溫/過載保護	三級報警	防止設(shè)備損壞

適用標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.2-2008：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
IEC 60068-2-2：國際電工委員會高溫試驗標(biāo)準(zhǔn)
JIS C 60068-2-2：日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)高溫測試規(guī)范

主流型號橫評表

型號	溫度范圍	濕度范圍	容積	控制精度	符合標(biāo)準(zhǔn)	附加特性
LH-80A	RT+20~200℃	不控濕	0.8m3	±1℃	GB/T 2423.2	RS485通信
LH-120B	RT+20~250℃	20%~98%RH	1.2m3	±1.5℃	IEC 60068	數(shù)據(jù)記錄儀
LH-200C	RT+20~300℃	不控濕	2.0m3	±2℃	JIS C 60068	獨立風(fēng)道

常見故障與維護指南

典型故障及處理

故障現(xiàn)象	可能原因	解決方案
升溫緩慢	加熱管老化/接觸不良	更換加熱組件（建議每3年更換）
溫度超調(diào)	PID參數(shù)失調(diào)	重新整定參數(shù)（P=50, I=300, D=10）
報警頻繁	傳感器偏移	校準(zhǔn)PT100傳感器（每年一次）