可程式高低溫試驗箱是高溫老化、環(huán)境適應(yīng)性測試的核心設(shè)備，選型需聚焦溫度范圍、控制精度、負(fù)載能力等關(guān)鍵參數(shù)，優(yōu)先選擇符合IEC 60068、GB/T 2423等國際/國標(biāo)的廠商。采購流程中，技術(shù)協(xié)議需明確驗收標(biāo)準(zhǔn)與校準(zhǔn)周期，避免低價陷阱。日常維護需定期清潔冷凝器、校驗傳感器，故障排查優(yōu)先檢查安全聯(lián)鎖與制冷系統(tǒng)。

目錄

1. 核心結(jié)論
2. 快速答案卡片
3. 選型決策流程
4. 技術(shù)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)解析
5. 主流品牌橫評
6. 常見故障與維護
7. 采購全流程Checklist
8. FAQ
9. 聲明

快速答案卡片

選型決策流程

1. 需求確認(rèn)

• 試樣尺寸：內(nèi)箱有效尺寸需≥試樣最大輪廓+10%冗余（例：300mm×200mm×150mm試樣需選400L以上設(shè)備）
• 溫度范圍：電子元件測試通常需-40℃~+150℃，軍工產(chǎn)品可能要求-70℃~+180℃
• 負(fù)載類型：金屬試樣需考慮熱容量，塑料試樣需關(guān)注揮發(fā)物對制冷系統(tǒng)的影響

2. 技術(shù)參數(shù)對比表

3. 詢價模板

致XX廠商：
需采購可程式高低溫試驗箱1臺，要求：
1. 溫度范圍：-70℃~+180℃
2. 內(nèi)箱尺寸：≥800L
3. 符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-1/GB/T 2423.2
4. 提供FAT/SAT測試方案及計量證書
請于3個工作日內(nèi)回復(fù)技術(shù)方案及報價。

技術(shù)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)解析

關(guān)鍵參數(shù)定義

適用標(biāo)準(zhǔn)與場景

• IEC 60068-2-1：低溫試驗，適用于電子元器件運輸存儲測試
• GB/T 2423.2：高溫試驗，用于汽車電子、航空部件的老化篩選
• MIL-STD-810G：軍工產(chǎn)品極端環(huán)境測試，要求-70℃~+175℃

主流品牌橫評

常見故障與維護

典型故障及解決方案

維護清單

• 每日：檢查運行日志，確認(rèn)無報警
• 每月：清潔冷凝器濾網(wǎng)，檢查門封條
• 每年：校準(zhǔn)溫度傳感器，更換干燥過濾器

采購全流程Checklist

1. 需求分析：明確試樣尺寸、溫度范圍、測試標(biāo)準(zhǔn)
2. 技術(shù)協(xié)議：約定驗收標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 2423.22）、校準(zhǔn)周期（建議每年1次）
3. FAT測試：在廠商處驗證溫度均勻性、升溫速率
4. 安裝調(diào)試：確認(rèn)環(huán)境溫度（5℃~35℃）、電源穩(wěn)定性（±5%）
5. 計量認(rèn)證：通過CNAS認(rèn)可實驗室出具校準(zhǔn)證書

FAQ

Q1：如何判斷設(shè)備控制精度是否達標(biāo)？

A：使用二級標(biāo)準(zhǔn)溫度計（如Fluke 1586A）在空載狀態(tài)下連續(xù)監(jiān)測24小時，統(tǒng)計溫度偏差與波動度是否在標(biāo)稱范圍內(nèi)。

Q2：低溫試驗箱制冷劑泄漏如何檢測？

A：采用電子鹵素檢漏儀（如Inficon Tek-Mate）沿制冷管路掃描，泄漏點會觸發(fā)聲光報警。需注意R404A/R508B等環(huán)保制冷劑的檢漏閾值應(yīng)≤15g/年。

Q3：設(shè)備運行中突然停電怎么辦？

A：配置UPS不間斷電源（建議續(xù)航≥30分鐘），并在控制程序中設(shè)置停電恢復(fù)后的自動重啟策略，避免試樣因溫度驟變損壞。

外部參考：中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》（JJF 1101-2019）、ASTM國際標(biāo)準(zhǔn)組織《高溫持久試驗方法》（ASTM D3045）

聲明