1. 導(dǎo)讀

天煌教儀嵌入式試驗(yàn)箱作為高溫老化環(huán)境測(cè)試的核心設(shè)備，其選型需重點(diǎn)關(guān)注溫度范圍、控制精度及安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)。工程師需結(jié)合負(fù)載類型、試樣尺寸及行業(yè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T ）進(jìn)行參數(shù)匹配，避免因設(shè)備性能不足導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)失真或試樣失效。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 設(shè)備技術(shù)核心與選型邏輯
  • 高溫老化測(cè)試的失效機(jī)理
  • 關(guān)鍵參數(shù)解析表
  • 選型決策流程圖
• 設(shè)備對(duì)比與采購實(shí)操
  • 天煌教儀與其他品牌橫評(píng)表
  • 采購全流程Checklist
• 故障與維護(hù)指南
• FAQ
• 外部參考
• JSON-LD結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)

3. 快速答案卡片

4. 設(shè)備技術(shù)核心與選型邏輯

高溫老化測(cè)試的失效機(jī)理

高溫環(huán)境加速材料氧化、熱膨脹及電遷移效應(yīng)，導(dǎo)致試樣出現(xiàn)以下典型失效：

• 金屬部件：焊點(diǎn)虛焊、引腳氧化
• 塑料件：蠕變變形、絕緣性能下降
• 電子元件：參數(shù)漂移、漏電流增大

案例：2025年某汽車電子廠商因未控制試驗(yàn)箱濕度（實(shí)際濕度偏差達(dá)±5%RH），導(dǎo)致測(cè)試中電容容量衰減率超標(biāo)30%。

關(guān)鍵參數(shù)解析表

選型決策流程圖

5. 設(shè)備對(duì)比與采購實(shí)操

天煌教儀與其他品牌橫評(píng)表

采購全流程Checklist

1. 需求階段：明確試樣尺寸、測(cè)試周期、標(biāo)準(zhǔn)條款
2. 技術(shù)協(xié)議：約定溫度波動(dòng)度、報(bào)警閾值、校準(zhǔn)周期
3. 報(bào)價(jià)對(duì)比：要求提供設(shè)備配置清單（含傳感器品牌）
4. FAT/SAT：現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收時(shí)模擬滿載運(yùn)行，記錄24小時(shí)數(shù)據(jù)
5. 安裝驗(yàn)收：檢查接地電阻（≤4Ω）、通風(fēng)量（≥3m3/min）
6. 計(jì)量校準(zhǔn)：每年委托第三方機(jī)構(gòu)（如CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室）進(jìn)行精度復(fù)核

6. 故障與維護(hù)指南

維護(hù)周期：

• 每日：清潔觀察窗、檢查排水管
• 每月：潤(rùn)滑門鉸鏈、校準(zhǔn)溫度傳感器
• 每年：更換循環(huán)風(fēng)機(jī)軸承、檢查制冷劑壓力

7. FAQ

Q1：天煌教儀試驗(yàn)箱能否用于軍用級(jí)元器件測(cè)試？
A：需選配-70℃~+150℃型號(hào)，并增加振動(dòng)臺(tái)接口，符合GJB 標(biāo)準(zhǔn)。

Q2：設(shè)備報(bào)價(jià)差異大的原因是什么？
A：核心差異在于控制方式（PID vs 模糊控制）、傳感器精度（A級(jí) vs B級(jí)）及安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)復(fù)雜度。

Q3：如何驗(yàn)證設(shè)備溫度均勻性？
A：按IEC 60068-3-5要求，在空載和滿載狀態(tài)下分別布置9個(gè)測(cè)溫點(diǎn)，記錄30分鐘數(shù)據(jù)并計(jì)算極差。

8. 外部參考

• 中國(guó)電器科學(xué)研究院：環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范
• SAE國(guó)際：汽車電子高溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（AS6171）

10. JSON-LD結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)