深圳數碼產品老化柜選型需聚焦溫度均勻性、控制精度及安全聯鎖設計，優先選擇符合GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2標準的廠商。采購時應通過FAT/SAT驗證設備性能，定期校準溫度傳感器，避免因參數虛標或維護不當導致測試失效。推薦通過第三方計量機構驗證設備可靠性。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 選型決策流程
3. 核心參數與技術標準
4. 主流廠商橫評表
5. 常見故障與維護
6. 采購全流程Checklist
7. FAQ
8. 外部參考
9. 聲明

快速答案卡片

選型決策流程

1. 需求確認：明確測試產品尺寸（如PCB板、整機）、負載功率（典型值：50-5000W）、測試時長（24-1000小時）。
2. 參數匹配：
   • 溫度范圍：-70℃~+180℃（常規數碼產品選-20℃~+150℃）
   • 均勻性：±2℃（高精度需求選±1℃）
   • 控制方式：PID+SSR固態繼電器（優于機械式溫控）
3. 安全驗證：檢查超溫保護（雙回路獨立傳感器）、漏電保護（≤30mA）、門鎖聯鎖（開門自動斷電）。
4. 廠商篩選：優先選擇通過ISO 9001認證、提供FAT（工廠驗收）/SAT（現場驗收）報告的廠商。

詢價模板

致：XXX老化柜廠家
需求：
1. 測試產品：手機主板（尺寸：150mm×80mm×10mm）
2. 溫度范圍：-10℃~+85℃
3. 均勻性要求：±3℃
4. 負載功率：單板200W，總負載2000W
5. 需提供GB/T 2423.2測試報告
請提供技術方案、報價及交貨周期。

核心參數與技術標準

關鍵參數表

適用標準與邊界

• GB/T 2423.2-2008：高溫試驗方法，適用于電子元器件、整機（溫度偏差≤±2℃）。
• IEC 60068-2-2：國際電工委員會標準，強調安全聯鎖設計（如門鎖失效時自動斷電）。
• EIA-364-17：電子連接器高溫壽命測試，要求連續1000小時無故障。

主流廠商橫評表

常見故障與維護

典型故障清單

年度維護計劃

1. 每季度：清潔風道、檢查門封條密封性。
2. 每半年：校準溫度傳感器（使用標準溫度計對比）。
3. 每年：更換SSR繼電器、檢查接地電阻（≤4Ω）。

采購全流程Checklist

1. 需求確認：明確測試產品類型、溫度范圍、負載功率。
2. 技術協議：約定溫度均勻性、安全聯鎖、校準周期。
3. 報價對比：要求提供分項報價（設備、運輸、安裝）。
4. FAT驗收：在廠商工廠驗證溫度均勻性、超溫保護功能。
5. SAT驗收：在用戶現場模擬實際負載測試。
6. 計量認證：委托第三方機構（如CNAS實驗室）出具校準證書。
7. 維保合同：明確保修期（通常1年）、響應時間（≤48小時）。

FAQ

Q1：如何判斷老化柜溫度均勻性是否達標？

在空載狀態下，將9個溫度傳感器均勻布置于工作室內（上中下三層各3個），運行至穩定狀態后記錄數據，最大溫差應≤標稱值（如±2℃）。

Q2：小型老化柜能否測試整機產品？

需確認工作室內尺寸是否滿足產品擺放要求（如手機整機需≥400mm×500mm×600mm），同時負載功率不得超過設備額定值的80%。

Q3：為什么老化測試后產品仍出現故障？

可能原因：溫度循環速率過快（超過3℃/min）、負載電流不穩定、測試時間不足（建議至少240小時）。

外部參考

• 中國電器科學研究院《環境試驗設備校準規范》
• SGS通標標準《電子元器件高溫老化測試指南》

聲明