思達(dá)試驗箱作為高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，其選型需基于負(fù)載容量、溫度均勻性、控制精度等關(guān)鍵參數(shù)，并符合IEC 60068、GB/T 2423等國際/國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)。用戶需通過技術(shù)協(xié)議明確需求邊界，結(jié)合FAT/SAT驗收流程規(guī)避質(zhì)量風(fēng)險，避免因參數(shù)虛標(biāo)或服務(wù)缺失導(dǎo)致測試失效。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 思達(dá)試驗箱選型決策流程
3. 關(guān)鍵參數(shù)與技術(shù)邊界
4. 主流型號橫評表
5. 采購全流程風(fēng)險控制Checklist
6. 常見問題解答（FAQ）
7. 聲明與外部參考

快速答案卡片

思達(dá)試驗箱選型決策流程

1. 需求分析：明確測試對象尺寸（長×寬×高）、溫度范圍、升溫速率、循環(huán)次數(shù)。例如，半導(dǎo)體芯片老化需溫度波動≤±1℃，而汽車線束測試允許±3℃。
2. 參數(shù)匹配：根據(jù)負(fù)載容量選擇容積，試樣總尺寸不得超過工作室有效空間的80%。參考公式：
   最小容積（L）= 長×寬×高×1.2（安全余量）
3. 控制方式選擇：
   • PID控制：適用于溫度波動要求嚴(yán)格的場景（如±0.5℃）
   • 模糊控制：適用于大滯后系統(tǒng)（如超大型試驗箱）
4. 安全聯(lián)鎖驗證：確認(rèn)超溫保護、過載斷電、門鎖互鎖功能是否符合IEC 61010-1標(biāo)準(zhǔn)。

選型參數(shù)解釋表

關(guān)鍵參數(shù)與技術(shù)邊界

典型工況與失效機理

• 電子元器件老化：溫度循環(huán)導(dǎo)致焊點熱疲勞，需控制升溫速率≤5℃/min以避免熱沖擊。
• 材料熱變形分析：需記錄溫度-變形曲線，采樣率需≥1Hz，否則數(shù)據(jù)失真。
• 軍工產(chǎn)品驗證：需符合MIL-STD-810G中“高溫工作”條款，溫度持續(xù)時間≥48小時。

標(biāo)準(zhǔn)適用邊界

主流型號橫評表

采購全流程風(fēng)險控制Checklist

1. 需求階段：明確測試對象物理參數(shù)、溫度曲線、循環(huán)次數(shù)，避免“模糊需求”導(dǎo)致設(shè)備不匹配。
2. 技術(shù)協(xié)議：要求供應(yīng)商提供溫度均勻性測試報告（9點法）、升溫速率曲線圖。
3. FAT（工廠驗收）：
   • 空載運行24小時，記錄溫度波動
   • 滿載測試（負(fù)載率80%），驗證均勻性
4. SAT（現(xiàn)場驗收）：模擬實際工況運行，檢查安全聯(lián)鎖功能。
5. 計量校準(zhǔn)：每年一次第三方校準(zhǔn)，保留CMA/CNAS認(rèn)證報告。

詢價模板示例

致：思達(dá)試驗箱供應(yīng)商
請?zhí)峁┮韵滦吞枅髢r及技術(shù)參數(shù)：
1. 型號：SD-1500H
2. 溫度范圍：-70℃~+300℃
3. 負(fù)載容量：1500L（試樣尺寸≤1200×800×600mm）
4. 交付周期：合同簽訂后60天內(nèi)
5. 質(zhì)保期：≥2年
6. 附件：溫度均勻性測試報告（9點法）、PID控制算法說明

常見問題解答（FAQ）

Q1：思達(dá)試驗箱價格差異大的原因是什么？

價格差異主要源于控制精度（±0.5℃ vs ±2℃）、加熱元件材質(zhì)（鎳鉻合金 vs 鐵鉻鋁）、安全聯(lián)鎖功能完整性。低價設(shè)備可能省略超溫保護或數(shù)據(jù)記錄功能。

Q2：如何判斷試驗箱溫度均勻性是否達(dá)標(biāo)？

依據(jù)IEC 60068-2-2標(biāo)準(zhǔn)，在空載狀態(tài)下，使用9點法（工作室中心及四角、中層四邊中點）測量溫度，最大溫差不得超過標(biāo)稱均勻性值的1.5倍。

Q3：試驗箱維護周期是多長？

日常維護：每周清潔風(fēng)道、檢查加熱管；季度維護：校準(zhǔn)溫度傳感器、潤滑門軸；年度維護：更換密封條、檢查制冷系統(tǒng)壓力。

Q4：思達(dá)試驗箱能否用于濕熱試驗？

部分型號支持（如SD-800A），但需確認(rèn)濕度范圍是否覆蓋需求（20%~98%RH）。濕熱試驗需額外配置加濕系統(tǒng)，且控制精度通常為±3%RH。

Q5：采購時如何避免“虛標(biāo)參數(shù)”？

要求供應(yīng)商提供第三方檢測報告（CMA/CNAS認(rèn)證），并在合同中明確違約條款（如溫度均勻性不達(dá)標(biāo)需無條件退貨）。

聲明與外部參考

外部專業(yè)來源：中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗設(shè)備技術(shù)發(fā)展報告》