

隆安
2025-12-15 08:54:32
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠(chǎng)家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠(chǎng)家直銷(xiāo)價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠(chǎng)家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢(xún)
桌上型節(jié)能恒溫恒濕試驗(yàn)箱適用于電子元器件、材料老化等小規(guī)模環(huán)境測(cè)試,選型需關(guān)注溫度/濕度范圍、控制精度、負(fù)載能力等核心參數(shù)。現(xiàn)貨采購(gòu)需驗(yàn)證廠(chǎng)商資質(zhì)(如CNAS認(rèn)證)、設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)(GB/T 2423),并通過(guò)FAT/SAT驗(yàn)收流程確保性能。典型價(jià)格區(qū)間為8萬(wàn)-25萬(wàn)元,維護(hù)周期建議每3個(gè)月校準(zhǔn)一次。
| 核心參數(shù) | 推薦范圍 |
|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+180℃ |
| 濕度范圍 | 10%~98%RH |
| 控制精度 | ±0.5℃/±2%RH |
| 典型容積 | 100L~500L |
| 價(jià)格區(qū)間 | 8萬(wàn)~25萬(wàn)元 |
| 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 2423、IEC 60068 |
桌上型設(shè)備主要用于電子元器件(如IC、PCB)、材料涂層、小型傳感器的高溫老化、濕熱交變測(cè)試。典型失效機(jī)理包括:
| 參數(shù) | 定義 | 選型建議 |
|---|---|---|
| 負(fù)載能力 | 設(shè)備內(nèi)可放置的試樣總質(zhì)量 | ≥50kg(避免超載導(dǎo)致溫場(chǎng)不均) |
| 試樣尺寸 | 單件試樣最大長(zhǎng)寬高 | ≤400mm×300mm×200mm |
| 控制方式 | 伺服控制(PID閉環(huán)) vs 液壓控制 | 優(yōu)先選伺服(精度高、響應(yīng)快) |
| 采樣率 | 溫濕度數(shù)據(jù)采集頻率 | ≥1次/秒(滿(mǎn)足動(dòng)態(tài)測(cè)試需求) |
| 安全聯(lián)鎖 | 過(guò)溫/過(guò)濕/漏電保護(hù) | 必須具備三級(jí)報(bào)警(聲光+停機(jī)) |
| 類(lèi)型 | 溫度范圍 | 適用場(chǎng)景 |
|---|---|---|
| 常溫型 | -20℃~+85℃ | 普通電子元件測(cè)試 |
| 高溫型 | +85℃~+180℃ | 功率器件、汽車(chē)電子 |
| 低溫型 | -70℃~+150℃ | 航空航天材料 |
| 品牌 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安HT-100 | -40℃~+150℃ | 20%~98%RH | 150L | ±0.8℃/±2.5%RH | GB/T 2423 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| 艾思荔TH-200 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | 300L | ±0.5℃/±2%RH | IEC 60068 | 自動(dòng)除霜 |
| 環(huán)儀ET-50 | -20℃~+120℃ | 30%~95%RH | 100L | ±1℃/±3%RH | MIL-STD-810 | 節(jié)能模式 |
核心差異在于控制精度(伺服系統(tǒng)成本占30%)、材質(zhì)(304不銹鋼內(nèi)膽比鍍鋅板貴40%)、安全設(shè)計(jì)(三級(jí)報(bào)警系統(tǒng)增加成本)。
按GB/T 5170.2標(biāo)準(zhǔn),在設(shè)備內(nèi)布置9個(gè)測(cè)試點(diǎn)(上中下三層,每層3點(diǎn)),運(yùn)行穩(wěn)定后每10分鐘記錄一次數(shù)據(jù),計(jì)算最大溫差。
實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)顯示,帶節(jié)能模式的設(shè)備(如環(huán)儀ET-50)比傳統(tǒng)機(jī)型省電25%,但初始成本高10%。適用于長(zhǎng)期連續(xù)運(yùn)行的實(shí)驗(yàn)室。
根據(jù)隆安設(shè)備2025年故障統(tǒng)計(jì),加熱管(占35%)、濕度傳感器(28%)、制冷壓縮機(jī)(20%)是主要故障源,建議每2年更換一次傳感器。
若測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為MIL-STD或AEC-Q,優(yōu)先選進(jìn)口(如ESPEC);若為GB/T或IEC標(biāo)準(zhǔn),國(guó)產(chǎn)設(shè)備(如艾思荔)性?xún)r(jià)比更高,維保響應(yīng)更快。
機(jī)構(gòu)引用:中國(guó)電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)白皮書(shū)》
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