1. 導(dǎo)讀

承德試驗(yàn)箱廠家直銷(xiāo)店為高溫老化環(huán)境測(cè)試用戶提供高精度、標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)備，選型需聚焦溫度范圍、控制精度、安全聯(lián)鎖等核心參數(shù)。通過(guò)技術(shù)協(xié)議明確驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、校準(zhǔn)周期及維保條款，可規(guī)避90%以上采購(gòu)風(fēng)險(xiǎn)。建議優(yōu)先選擇符合GB/T 標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備，并要求廠商提供FAT（工廠驗(yàn)收測(cè)試）報(bào)告。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 試驗(yàn)箱技術(shù)核心與選型邏輯
• 選型決策流程與實(shí)操工具
• 采購(gòu)全流程Checklist
• 選型對(duì)比表
• 常見(jiàn)故障與維護(hù)指南
• FAQ
• 外部參考

3. 快速答案卡片

• 選型核心參數(shù)：溫度范圍（-70℃~+300℃）、控制精度±1℃、負(fù)載容量≥50kg
• 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)：GB/T （高溫試驗(yàn)）、IEC 60068-2-2
• 價(jià)格區(qū)間：小型箱（80L）8萬(wàn)~12萬(wàn)，大型箱（500L）25萬(wàn)~40萬(wàn)
• 避坑要點(diǎn)：拒絕無(wú)安全聯(lián)鎖設(shè)備，要求廠商提供計(jì)量證書(shū)

4. 試驗(yàn)箱技術(shù)核心與選型邏輯

試驗(yàn)?zāi)康呐c典型工況

高溫老化試驗(yàn)箱用于模擬電子元器件、材料在長(zhǎng)期高溫環(huán)境下的性能衰減，典型應(yīng)用場(chǎng)景包括：

• 電子行業(yè)：PCB板、連接器、電容的焊點(diǎn)可靠性測(cè)試（失效機(jī)理：焊料蠕變、介質(zhì)分層）
• 汽車(chē)行業(yè)：電池包、線束的高溫存儲(chǔ)測(cè)試（失效機(jī)理：絕緣材料熱老化、密封件變形）
• 軍工行業(yè)：導(dǎo)彈導(dǎo)引頭、雷達(dá)組件的熱循環(huán)測(cè)試（失效機(jī)理：熱應(yīng)力導(dǎo)致的結(jié)構(gòu)開(kāi)裂）

關(guān)鍵參數(shù)解析

標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：GB/T 第 條要求，設(shè)備需在30min內(nèi)達(dá)到設(shè)定溫度并保持±2℃波動(dòng)。

5. 選型決策流程與實(shí)操工具

選型四步法

1. 需求確認(rèn)：明確試樣尺寸（長(zhǎng)×寬×高）、負(fù)載重量、測(cè)試周期
2. 參數(shù)匹配：根據(jù)溫度范圍（-70℃~+300℃）選擇制冷/加熱系統(tǒng)類(lèi)型
3. 標(biāo)準(zhǔn)校驗(yàn)：核對(duì)設(shè)備是否支持GB/T 、IEC 60068-2-2
4. 廠商評(píng)估：要求提供近3年同類(lèi)項(xiàng)目案例及計(jì)量證書(shū)

詢(xún)價(jià)模板

6. 采購(gòu)全流程Checklist

7. 選型對(duì)比表

8. 常見(jiàn)故障與維護(hù)指南

典型故障及處理

維護(hù)周期：每季度清潔風(fēng)道、每年更換循環(huán)風(fēng)機(jī)軸承。

9. FAQ

Q1：如何選擇試驗(yàn)箱容積？

A：試樣總體積不得超過(guò)內(nèi)腔容積的70%，例如測(cè)試10塊200×100×50mm的PCB板，需選擇≥300L的設(shè)備（計(jì)算：10× × × = 3，300L內(nèi)腔體積 3， ≈ %<70%）。

Q2：設(shè)備精度下降怎么辦？

A：立即停機(jī)，用Fluke 9133干體爐校準(zhǔn)溫度傳感器，若偏差超過(guò)± ℃，需聯(lián)系廠商更換鉑電阻探頭。

Q3：高溫試驗(yàn)箱能用于低溫測(cè)試嗎？

A：僅限支持-70℃~+300℃的復(fù)合型設(shè)備，普通高溫箱（RT+10~200℃）無(wú)制冷功能，強(qiáng)行降溫會(huì)導(dǎo)致壓縮機(jī)損壞。

10. 外部參考

• 全國(guó)工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)許可證辦公室：試驗(yàn)箱生產(chǎn)資質(zhì)查詢(xún)欄目
• 中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院：溫度校準(zhǔn)技術(shù)規(guī)范（JJG 875-2019）