HAST加速老化箱是電子、汽車、半導體行業用于高溫高濕加速老化的關鍵設備，選型需重點關注溫度/濕度范圍、控制精度、容積及安全聯鎖功能。典型應用場景包括IC封裝可靠性測試、PCB材料吸濕率分析、汽車電子部件耐候性驗證。技術參數需符合IEC 60068-2-67標準，采購流程需包含FAT/SAT測試及計量校準。用戶需規避非標設備、虛假精度宣傳等陷阱，優先選擇通過CNAS認證的廠商。

目錄

1. HAST加速老化箱核心價值
2. 快速答案卡片
3. 選型技術指南
4. 典型應用場景與參數
5. 主流品牌橫評表
6. 采購風險規避
7. 全流程采購Checklist
8. 常見問題解答
9. 聲明

HAST加速老化箱核心價值

HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老化箱通過高溫（≥105℃）、高濕（≥85%RH）及高壓（2-3atm）環境，在數小時內模擬產品數年的自然老化過程。其核心價值在于：

• 縮短研發周期：傳統85℃/85%RH測試需1000小時，HAST可在96小時內完成等效驗證
• 失效機理顯性化：加速金屬氧化、塑料水解、焊點蠕變等潛在失效模式
• 符合國際標準：IEC 60068-2-67、JESD22-A110等規范明確要求HAST作為可靠性驗證手段

快速答案卡片

選型技術指南

關鍵參數決策樹

1. 溫度范圍： - 常規電子元件：105℃-120℃ - 汽車電子/功率器件：130℃-150℃ - 軍工級產品：175℃（需定制）
2. 濕度控制： - 吸濕性材料測試：≥85%RH - 金屬腐蝕測試：50%-95%RH可調
3. 容積選擇： - 實驗室樣品：100L-200L - 批量驗證：300L-500L - 全自動系統：≥1000L（含機械臂）

參數解釋表

典型應用場景與參數

場景1：IC封裝可靠性測試

• 測試目的：驗證塑封料與芯片界面的吸濕膨脹系數（CTE）匹配性
• 關鍵參數：
  • 溫度：130℃±1℃
  • 濕度：85%RH±1%
  • 壓力：2.3atm
  • 持續時間：96小時
• 失效模式：爆米花效應（Popcorn Cracking）

場景2：汽車電子部件耐候性

• 測試目的：模擬發動機艙高溫高濕環境
• 關鍵參數：
  • 溫度：150℃±2℃
  • 濕度：95%RH±2%
  • 循環條件：12小時高溫高濕+12小時低溫低濕
• 標準依據：ISO 16750-4

主流品牌橫評表

采購風險規避

常見陷阱與應對

1. 虛假精度宣傳： - 風險：宣稱±0.5℃精度但無CNAS校準證書 - 應對：要求提供第三方計量報告
2. 非標設備定制： - 風險：為降低成本修改標準設計導致測試無效 - 應對：堅持符合IEC 60068-2-67標準
3. 耗材捆綁銷售： - 風險：強制購買高價純水機 - 應對：選擇支持外部純水接入的設備

全流程采購Checklist

常見問題解答

Q1：HAST與PCT測試的區別？

A：HAST采用飽和水蒸氣環境（壓力2-3atm），溫度105℃-150℃；PCT（Pressure Cooker Test）使用121℃/100%RH/2atm條件，更側重塑封料分層檢測。

Q2：設備年維護成本占比？

A：約占設備采購價的5%-8%，主要包含純水耗材（30%）、定期校準（40%）、易損件更換（30%）。

Q3：如何驗證溫濕度均勻性？

A：按IEC 60068-3-5要求，在空載狀態下布置9個校準傳感器，連續記錄24小時數據，計算最大偏差值。

聲明