

隆安
2025-12-22 08:47:36
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華為分布式老化柜是面向電子元器件、電力電子設備的高溫老化測試核心裝備,具備分布式架構、高精度控溫(±1℃)、多通道獨立控制特性,適用于5G通信、新能源汽車、工業控制等領域。選型需重點關注溫度范圍、控制精度、安全聯鎖功能及符合標準(如IEC 60068、GB/T 2423),采購需通過技術協議、FAT/SAT驗收、計量校準等流程確保可靠性。
華為分布式老化柜通過模塊化設計實現多通道獨立控溫,適用于電子元器件(如IGBT、電容)、電力電子設備(如逆變器、充電樁)的高溫加速老化測試。其核心優勢在于分布式架構降低單點故障風險,控溫精度達±1℃,支持IEC 60068-2-2、GB/T 2423.2等標準,是5G基站、新能源汽車BMS測試的關鍵裝備。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 典型溫度范圍 | -70℃~+200℃(可選擴展至+300℃) |
| 控制精度 | ±1℃(靜態)、±2℃(動態) |
| 核心標準 | IEC 60068-2-2、GB/T 2423.2、MIL-STD-810G |
| 選型關鍵參數 | 溫度均勻性、負載容量、安全聯鎖等級 |
| 采購周期 | 標準型號4-6周,定制型號8-12周 |
高溫老化測試通過加速熱應力暴露電子元器件的潛在缺陷,常見失效模式包括:
| 參數 | 說明 | 典型值 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 工作區間 | -70℃~+200℃ |
| 溫度均勻性 | 工作區最大溫差 | ≤2℃(空載) |
| 升溫速率 | 空載條件下 | ≥5℃/min |
| 控制方式 | PID+模糊控制 | 分布式獨立控制 |
| 安全聯鎖 | 超溫/過流保護 | 三級報警(聲光+斷電) |
| 參數 | 定義 | 選型建議 |
|---|---|---|
| 溫度波動度 | 穩態下1分鐘內最大偏差 | ≤±0.5℃(精密測試) |
| 溫度偏差 | 工作區中心與平均值差 | ≤±1℃(標準測試) |
| 采樣率 | 數據記錄頻率 | ≥1次/秒(動態測試) |
| 負載容量 | 單通道最大發熱量 | ≥實際需求1.2倍 |
致:華為技術有限公司
主題:分布式老化柜詢價(型號:HUAWEI-DAC-200)
1. 溫度范圍:-40℃~+150℃(可選+180℃)
2. 通道數量:8通道(每通道獨立控溫)
3. 符合標準:IEC 60068-2-2、GB/T 2423.2
4. 交付周期:8周內
5. 驗收標準:提供第三方計量報告
| 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| HUAWEI-DAC-100 | -70~+150℃ | 10%~98%RH | 0.5m3 | ±1℃ | IEC/GB | USB數據導出 |
| HUAWEI-DAC-200 | -40~+200℃ | 5%~95%RH | 1.2m3 | ±0.5℃ | MIL-STD | 遠程監控 |
| HUAWEI-DAC-300 | -20~+300℃ | — | 2.0m3 | ±2℃ | ASTM | 防爆設計 |
A:使用標準鉑電阻溫度計(如Fluke 1585A)在空載條件下測量工作區中心點與四角的溫差,連續記錄24小時數據,統計95%置信區間的偏差值。
A:分布式設計允許單通道故障時不影響其他通道運行,維護時僅需隔離故障模塊,停機時間減少70%(參考華為實驗室2025年數據)。
A:根據華為2025年售后數據,加熱管(占比32%)、溫度傳感器(28%)、接觸器(19%)是前三位故障源,建議每2年更換預防性維護。
A:僅當測試對象對濕敏等級有要求時(如MSL 3級以上元件)需配置濕度控制,否則可選用干燥空氣循環設計降低成本。
A:華為設備在分布式控制、本地化服務、性價比(約進口品牌的65%)上具有優勢,但在超高溫(>300℃)領域進口品牌(如Espec、CSZ)仍占主導。
因老化試驗設備參數各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術方案
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