茂名智能老化測(cè)試柜的選型需基于負(fù)載容量、溫度控制精度、安全聯(lián)鎖等核心參數(shù)，優(yōu)先選擇符合IEC 60068/GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備。采購(gòu)時(shí)需通過技術(shù)協(xié)議明確驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，避免低價(jià)陷阱。推薦通過FAT/SAT現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試驗(yàn)證設(shè)備性能，定期校準(zhǔn)確保數(shù)據(jù)可靠性。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 采購(gòu)全流程Checklist
3. 技術(shù)參數(shù)與選型決策
4. 主流廠商對(duì)比表
5. 常見故障與維護(hù)要點(diǎn)
6. 驗(yàn)收與校準(zhǔn)清單
7. FAQ
8. 聲明

快速答案卡片

茂名地區(qū)推薦優(yōu)先選擇通過CNAS認(rèn)證的廠商，如隆安老化實(shí)驗(yàn)設(shè)備（2025年通過IEC 60068-2-14:2019標(biāo)準(zhǔn)復(fù)審）。

采購(gòu)全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：明確試樣尺寸（如PCB板1200×800mm）、負(fù)載類型（功率器件/連接器）、測(cè)試周期（72h/168h）
2. 技術(shù)協(xié)議：要求標(biāo)注符合GB/T 2423.2-2008高溫試驗(yàn)條款，明確采樣率≥1次/秒
3. 報(bào)價(jià)對(duì)比：重點(diǎn)核查溫度均勻性（≤2℃）、升溫速率（3℃/min典型值）
4. FAT/SAT測(cè)試：現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證超溫報(bào)警響應(yīng)時(shí)間（≤5秒）、數(shù)據(jù)記錄完整性
5. 計(jì)量校準(zhǔn)：每年送檢至廣東省計(jì)量科學(xué)研究院，核查溫度偏差（≤±1℃）

技術(shù)參數(shù)與選型決策

關(guān)鍵參數(shù)解釋表

選型決策流程

1. 確定試樣體積（如汽車電子模塊：400×300×150mm）
2. 計(jì)算負(fù)載功率（如IGBT模塊：200W/個(gè)×10個(gè)=2kW）
3. 選擇控制方式：伺服PID控制（精度±0.3℃）優(yōu)于開關(guān)量控制
4. 驗(yàn)證安全聯(lián)鎖：超溫自動(dòng)斷電+門禁互鎖+急停按鈕

主流廠商對(duì)比表

常見故障與維護(hù)要點(diǎn)

典型故障處理

維護(hù)周期表

驗(yàn)收與校準(zhǔn)清單

FAT現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收項(xiàng)

1. 溫度均勻性測(cè)試：9點(diǎn)法測(cè)量，最大溫差≤2℃
2. 超溫保護(hù)測(cè)試：設(shè)定200℃，實(shí)際溫度達(dá)201℃時(shí)3秒內(nèi)斷電
3. 數(shù)據(jù)記錄驗(yàn)證：連續(xù)72h無(wú)丟幀，采樣間隔≤1秒

計(jì)量校準(zhǔn)項(xiàng)

1. 使用標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)（二等標(biāo)準(zhǔn)）比對(duì)
2. 核查-20℃、+85℃、+150℃三點(diǎn)偏差
3. 出具CNAS認(rèn)可校準(zhǔn)證書

FAQ

Q1：如何選擇適合功率器件的老化測(cè)試柜？

A：需計(jì)算總負(fù)載功率（如10個(gè)200W器件需≥2kW），選擇帶強(qiáng)制風(fēng)冷系統(tǒng)的設(shè)備，確保溫度均勻性。參考IEC 60749-23:2025半導(dǎo)體器件高溫反偏試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

Q2：設(shè)備報(bào)價(jià)差異大的原因是什么？

A：主要區(qū)別在控制精度（±0.5℃ vs ±2℃）、傳感器類型（PT100 vs 熱電偶）、安全聯(lián)鎖等級(jí)。低價(jià)設(shè)備可能省略超溫保護(hù)或數(shù)據(jù)記錄功能。

Q3：運(yùn)輸過程中需要注意什么？

A：需按GB/T 4857.5-2017進(jìn)行垂直沖擊試驗(yàn)，設(shè)備固定采用L型角鋼+減震泡棉，傾斜角≤15°。運(yùn)輸后需進(jìn)行48h通電老化再使用。

引用機(jī)構(gòu)：中國(guó)電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》欄目（2025年修訂版）

聲明