導讀

新機器進入老化房的核心目的是通過模擬高溫環(huán)境暴露潛在失效模式，驗證設計可靠性、篩選早期故障，并為量產(chǎn)提供質(zhì)量保障。工程師需結合產(chǎn)品特性（如電子/機械/材料類型）選擇適配參數(shù)，避免因選型不當導致測試失效或成本浪費。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 老化房測試的技術本質(zhì)
3. 關鍵參數(shù)與選型決策
4. 選型對比表
5. 采購與驗收全流程Checklist
6. FAQ
7. 外部參考

快速答案卡片

老化房測試的技術本質(zhì)

老化房（Burn-in Chamber）通過高溫、高濕或溫度循環(huán)等環(huán)境應力，加速產(chǎn)品內(nèi)部潛在缺陷的暴露。其技術邏輯基于阿倫尼斯模型（Arrhenius Model），即溫度每升高10℃，化學反應速率翻倍，從而縮短故障顯現(xiàn)時間。

典型應用場景：

• 電子設備：PCB板、電源模塊、LED驅動（測試焊點虛焊、電容漏液）
• 機械部件：軸承、密封圈（測試熱膨脹系數(shù)匹配性）
• 材料樣品：塑料外殼、橡膠件（測試高溫下的形變與老化速率）

失效機理示例：

• 電子類：電解電容在105℃下壽命縮短至常溫的1/64（依據(jù)MIL-HDBK-217F）
• 機械類：金屬疲勞裂紋在高溫下擴展速度提升3-5倍（參考ASTM E647標準）

關鍵參數(shù)與選型決策

參數(shù)解釋表

選型決策流程

1. 明確測試需求：
   • 電子設備：優(yōu)先關注溫度均勻性（≤±2℃）
   • 機械部件：需配置振動臺模擬動態(tài)負載
2. 預算分配：
   • 基礎款（±2℃精度）：10萬~30萬元
   • 高端款（± ℃精度+數(shù)據(jù)追溯）：50萬~100萬元
3. 驗證廠商資質(zhì)：
   • 核查是否通過ISO 17025實驗室認證
   • 要求提供第三方校準報告（如CNAS認可機構）

詢價模板

選型對比表

采購與驗收全流程Checklist

1. 需求確認：
   • 明確測試樣品尺寸、數(shù)量、測試周期
   • 確定是否需要濕度/振動復合環(huán)境
2. 技術協(xié)議簽訂：
   • 約定溫度波動度、均勻性指標
   • 規(guī)定故障響應時間（如≤4小時）
3. FAT/SAT驗收：
   • 工廠驗收（FAT）：空載運行72小時，記錄溫度曲線
   • 現(xiàn)場驗收（SAT）：滿載測試，驗證安全聯(lián)鎖功能
4. 計量校準：
   • 每年委托第三方機構（如SGS）校準傳感器
   • 保存校準證書至設備生命周期結束

FAQ

Q1：老化房測試能否替代常規(guī)環(huán)境試驗？
A：不能完全替代。老化房側重加速壽命測試，而常規(guī)試驗（如高低溫循環(huán)）需覆蓋更寬的溫度范圍和更復雜的應力組合（如溫度+振動）。

Q2：如何判斷測試結果是否有效？
A：依據(jù)標準條款驗證：

• IEC 60068-2-78：要求連續(xù)運行96小時無故障
• GB/T ：溫度均勻性需≤±2℃

Q3：低價老化房可能存在哪些隱患？
A：常見問題包括：

• 溫度超調(diào)導致樣品損壞（因無PID控制）
• 密封條老化快，增加能耗
• 無數(shù)據(jù)記錄功能，無法追溯測試過程

Q4：老化房與恒溫恒濕箱的區(qū)別是什么？
A：

Q5：老化測試后樣品仍故障，如何歸因？
A：需結合失效分析（FA）流程：

1. 外觀檢查（焊點、裂紋）
2. 電性能測試（開路/短路）
3. 材料分析（DSC熱分析、SEM掃描）

外部參考

• IEC國際電工委員會：IEC 60068系列環(huán)境試驗標準
• 中國計量科學研究院：環(huán)境試驗設備校準規(guī)范（JJF 1101-2019）
• 美國軍標：MIL-STD-810G軍用設備環(huán)境工程考慮