上海進(jìn)口試驗(yàn)箱現(xiàn)貨批發(fā)公司需重點(diǎn)關(guān)注設(shè)備技術(shù)參數(shù)（溫度/濕度范圍、控制精度）、標(biāo)準(zhǔn)符合性（IEC/ASTM/GB）、安全聯(lián)鎖功能及廠商維保能力。工程師應(yīng)通過參數(shù)表對比、FAT/SAT驗(yàn)收、計(jì)量校準(zhǔn)三步驗(yàn)證設(shè)備可靠性，避免因選型錯(cuò)誤或維護(hù)缺失導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)失真。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 選型決策流程
3. 關(guān)鍵參數(shù)與技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
4. 進(jìn)口試驗(yàn)箱橫評表
5. 常見故障與維護(hù)要點(diǎn)
6. 采購全流程Checklist
7. FAQ
8. 外部參考
9. 聲明

快速答案卡片

選型決策流程

1. 需求確認(rèn)：明確測試對象（如PCB板、塑料件）、溫度范圍（-70℃~+300℃常見）、循環(huán)次數(shù)（如1000次熱震）
2. 參數(shù)匹配：

   參數(shù)	電子元件測試	材料老化測試
   溫度均勻性	≤±2℃	≤±3℃
   升溫速率	3-5℃/min	1-3℃/min
   負(fù)載容量	0.5m3/層	2m3/層

3. 廠商篩選：優(yōu)先選擇提供FAT（工廠驗(yàn)收）、SAT（現(xiàn)場驗(yàn)收）的供應(yīng)商，如德國WEISS、日本ESPEC的上海代理
4. 詢價(jià)模板：

   主題：高溫老化試驗(yàn)箱詢價(jià)（型號(hào)：XXX）
   1. 溫度范圍/均勻性/波動(dòng)度
   2. 濕度控制需求（如需）
   3. 試樣架材質(zhì)（不銹鋼/鋁）
   4. 通訊接口（RS485/以太網(wǎng)）
   5. 維保條款（響應(yīng)時(shí)間、備件庫存）
   

關(guān)鍵參數(shù)與技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

核心參數(shù)解釋

適用標(biāo)準(zhǔn)與邊界

• IEC 60068-2-2：電子設(shè)備高溫試驗(yàn)，要求溫度穩(wěn)定后保持48h
• ASTM D4332：包裝材料高溫測試，需配合濕度控制（如85%RH）
• GB/T 2423.2：中國電工電子產(chǎn)品高溫試驗(yàn)，強(qiáng)調(diào)安全聯(lián)鎖功能驗(yàn)證

進(jìn)口試驗(yàn)箱橫評表

常見故障與維護(hù)要點(diǎn)

典型故障

• 溫度超調(diào)：PID參數(shù)失調(diào)，需重新整定（建議由廠商工程師操作）
• 加熱管損壞
長期滿負(fù)荷運(yùn)行導(dǎo)致，需每年更換（參考IEC 60335-1）
• 傳感器偏移：每季度用標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)校準(zhǔn)（如FLUKE 5628）