

隆安
2026-01-06 09:12:56
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隆安老化設備25生產廠家直銷價格,品質售后雙保障,廠家直供價更優! 馬上咨詢
井岡山恒濕恒溫試驗箱批發需聚焦選型適配性、技術參數精度及合規性。用戶需明確負載、溫濕度范圍、控制方式等核心參數,優先選擇符合GB/T 2423、IEC 60068等標準的設備,并通過FAT/SAT驗收、計量校準等流程確保可靠性。采購時需規避無資質廠商,優先考察廠商的技術支持能力與售后服務體系。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 井岡山試驗箱核心參數 | 溫度范圍-70℃~+150℃,濕度范圍10%~98%RH,控制精度±0.5℃/±2%RH |
| 推薦標準 | GB/T 2423、IEC 60068、ASTM D4332 |
| 關鍵選型點 | 負載容量、試樣尺寸、控制方式(伺服/PID)、安全聯鎖 |
| 避坑重點 | 核查廠商資質、要求提供校準證書、拒絕低價低質設備 |
| 參數 | 定義 | 典型值 | 失效影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | 設備可穩定運行的最低/最高溫度 | -70℃~+150℃ | 超限導致試樣熱應力失效 |
| 濕度范圍 | 設備可控制的相對濕度區間 | 10%~98%RH | 濕度波動引發材料吸濕膨脹 |
| 控制精度 | 實際值與設定值的偏差 | ±0.5℃/±2%RH | 精度不足導致測試數據不可信 |
| 負載容量 | 設備可承載的最大試樣質量 | 50kg~2000kg | 超載引發設備故障或測試異常 |
| 采樣率 | 數據采集頻率 | 1次/秒~10次/秒 | 低采樣率遺漏瞬態變化 |
致:XX廠商
需采購恒濕恒溫試驗箱1臺,參數要求如下:
1. 溫度范圍:-40℃~+130℃
2. 濕度范圍:20%~95%RH
3. 容積:≥1m3
4. 控制方式:伺服控制
5. 符合標準:GB/T 2423.3-2016
請提供技術方案、報價及FAT/SAT驗收流程。
| 應用場景 | 推薦設備類型 | 關鍵參數 | 典型失效模式 |
|---|---|---|---|
| 電子元器件高溫老化 | 小型臺式試驗箱 | 溫度范圍+85℃~+125℃,容積0.1m3 | 焊點虛焊、電容漏液 |
| 汽車零部件濕熱循環 | 中型步入式試驗室 | 溫度范圍-40℃~+85℃,濕度范圍30%~95%RH | 金屬腐蝕、橡膠脆化 |
| 航空航天材料測試 | 大型高低溫沖擊箱 | 溫度范圍-70℃~+200℃,升溫速率10℃/min | 熱膨脹系數超標 |
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 | 價格區間(萬元) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 井岡山XX儀器 | -70℃~+180℃ | 5%~98%RH | ±0.3℃/±1.5%RH | GB/T 2423、IEC 60068 | 遠程診斷、數據備份 | 18~35 |
| 井岡山YY科技 | -60℃~+150℃ | 10%~95%RH | ±0.5℃/±2%RH | ASTM D4332、MIL-STD-810 | 應急停機、多語言界面 | 12~25 |
| 井岡山ZZ設備 | -40℃~+130℃ | 20%~90%RH | ±1℃/±3%RH | JIS Z2371、ISO 16750 | 基礎款、無附加功能 | 8~15 |
| 階段 | 關鍵動作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認 | 明確測試標準、試樣參數、預算范圍 | 需求規格書 |
| 技術協議 | 約定溫度/濕度范圍、控制精度、安全聯鎖 | 技術協議書 |
| 報價對比 | 橫向比較3家以上廠商參數與價格 | 報價分析表 |
| FAT驗收 | 在廠商處驗證設備功能、精度及穩定性 | FAT報告 |
| 安裝調試 | 檢查設備水平度、接地電阻、通風條件 | 安裝記錄 |
| SAT驗收 | 模擬實際工況運行72小時,記錄數據偏差 | SAT證書 |
| 計量校準 | 委托第三方機構校準,出具CNAS證書 | 校準報告 |
| 維保計劃 | 約定定期保養、備件更換及應急響應 | 維保合同 |
A1:要求廠商提供第三方校準證書,現場使用標準溫濕度源(如Fluke 9133)進行比對測試,連續記錄24小時數據,計算平均偏差與波動度。
A2:試樣尺寸≤0.5m3選臺式箱,成本低、占地小;試樣尺寸>1m3或需多人同時操作選步入式,但初始投資高30%~50%。
A3:60%故障源于維護缺失(如冷凝器積塵、加濕器結垢),20%源于超負載運行,15%源于電源不穩定,5%源于元器件老化。
A4:進口設備精度高(±0.1℃/±0.5%RH)但價格貴2~3倍,交貨期長;國產設備性價比高,需優先選擇有軍工/航天合作背景的廠商。
A5:依據JJF 1101-2019,常規使用每12個月校準1次;高精度需求(如半導體測試)每6個月校準1次;設備搬遷或大修后需立即校準。
因老化試驗設備參數各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術方案
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