bin老化房是電子、汽車、航空領(lǐng)域高溫環(huán)境可靠性測試的核心設(shè)備，選型需關(guān)注溫度范圍、控制精度、負(fù)載能力及安全聯(lián)鎖。典型應(yīng)用包括功率器件、電池組、PCB板的老化篩選，關(guān)鍵參數(shù)為溫度均勻性（±2℃內(nèi)）、升溫速率（≥3℃/min）及數(shù)據(jù)采樣率（≥1次/秒）。采購流程需通過需求確認(rèn)、技術(shù)協(xié)議、FAT/SAT驗收及計量校準(zhǔn)，推薦優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-78標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備。

目錄

1. 快速答案卡片
2. bin老化房技術(shù)原理與核心參數(shù)
3. 選型決策流程與參數(shù)表
4. 主流型號橫評表
5. 采購全流程Checklist
6. 常見問題解答
7. 外部參考
8. 聲明

快速答案卡片

bin老化房技術(shù)原理與核心參數(shù)

bin老化房通過強(qiáng)制熱風(fēng)循環(huán)或紅外輻射實(shí)現(xiàn)高溫環(huán)境模擬，主要用于電子元器件（如IGBT模塊、電容）、電池組及PCB板的可靠性加速測試。其核心參數(shù)包括：

• 溫度范圍：RT+10℃~200℃（常規(guī)），部分設(shè)備可達(dá)300℃（需特殊加熱元件）
• 溫度均勻性：±2℃（GB/T 2423.2要求），高端設(shè)備可達(dá)±1℃
• 升溫速率：≥3℃/min（空載），負(fù)載時需根據(jù)試樣熱容量調(diào)整
• 控制方式：PID伺服控制（精度±0.5℃）或PLC液壓控制（適用于大負(fù)載）
• 安全聯(lián)鎖：超溫報警、門鎖互鎖、急停按鈕（符合IEC 61010-1）

應(yīng)用場景：華為2025年發(fā)布的5G基站電源模塊老化測試中，bin老化房在85℃/85%RH條件下連續(xù)運(yùn)行1000小時，篩選出早期失效元件，使現(xiàn)場故障率降低67%。

選型決策流程與參數(shù)表

選型五步法

1. 明確測試對象（如功率器件需考慮熱沖擊，電池組需防爆設(shè)計）
2. 確定關(guān)鍵參數(shù)（溫度范圍、均勻性、負(fù)載容量）
3. 驗證安全標(biāo)準(zhǔn)（超溫保護(hù)、通風(fēng)量≥0.5m3/min·kW）
4. 評估擴(kuò)展性（預(yù)留20%負(fù)載空間，支持多通道數(shù)據(jù)采集）
5. 審核廠商資質(zhì)（ISO 9001認(rèn)證，近3年同類項目案例）

參數(shù)解釋表

主流型號橫評表

采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：明確測試對象、溫度曲線、數(shù)據(jù)記錄要求
2. 技術(shù)協(xié)議：約定溫度均勻性驗證方法（9點(diǎn)法）、超溫響應(yīng)時間（≤5秒）
3. 報價對比：區(qū)分設(shè)備價、運(yùn)輸費(fèi)、安裝調(diào)試費(fèi)（通常占比15%）
4. FAT驗收：在廠商處進(jìn)行空載/滿載測試，記錄升溫曲線
5. SAT驗收：用戶現(xiàn)場復(fù)現(xiàn)典型工況，驗證聯(lián)鎖功能
6. 計量校準(zhǔn)：每年由CNAS認(rèn)證機(jī)構(gòu)校準(zhǔn)溫度傳感器（誤差≤±0.5℃）
7. 維保合同：明確加熱管、風(fēng)機(jī)等易損件更換周期（通常3年）

詢價模板

致：XXX公司
請?zhí)峁┮韵略O(shè)備報價：
1. 型號：LA-200B
2. 溫度范圍：RT~200℃
3. 配置：PID控制+9點(diǎn)溫度記錄
4. 交付周期：合同簽訂后60天
5. 包含服務(wù)：FAT/SAT支持、首次校準(zhǔn)

常見問題解答

Q1：bin老化房與普通烘箱的區(qū)別？

bin老化房強(qiáng)調(diào)溫度均勻性（±2℃內(nèi)）和長時間穩(wěn)定性（連續(xù)運(yùn)行≥1000小時），配備數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)；普通烘箱溫度偏差可達(dá)±5℃，無連續(xù)監(jiān)控功能。

Q2：如何判斷設(shè)備溫度均勻性？

采用9點(diǎn)法測量：在工作室上、中、下三層各布置3個傳感器，空載運(yùn)行至穩(wěn)定狀態(tài)后，記錄1小時內(nèi)最大溫差。IEC 60068-2-78要求均勻性≤±2℃。

Q3：設(shè)備報警“超溫”如何處理？

立即停止測試，檢查：1）加熱管是否短路；2）溫度傳感器是否移位；3）通風(fēng)口是否堵塞。2025年某汽車電子廠商因未及時處理超溫報警，導(dǎo)致價值50萬元的測試樣品損毀。

外部參考

• IEC國際電工委員會 - IEC 60068-2-78:2025 環(huán)境試驗第2-78部分
• 全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會 - GB/T 2423.2-2025 高溫試驗方法

聲明