導(dǎo)讀：

目錄：

1. 快速答案卡片
2. 試驗(yàn)箱技術(shù)解析
3. 選型決策流程與參數(shù)表
4. 采購(gòu)全流程Checklist
5. 選型對(duì)比表
6. 常見(jiàn)故障與維護(hù)指南
7. FAQ
8. 外部參考
9. 聲明

快速答案卡片：

• 核心用途：模擬高溫強(qiáng)光環(huán)境，測(cè)試材料/電子產(chǎn)品的耐老化性能。
• 關(guān)鍵參數(shù)：溫度范圍（RT+10℃~150℃）、光強(qiáng)（1000~5000W/m2）、均勻性（±5%）、控制精度（±1℃）。
• 推薦標(biāo)準(zhǔn)：GB/T （高溫試驗(yàn)）、IEC 60068-2-5（太陽(yáng)輻射）。
• 采購(gòu)流程：需求確認(rèn)→技術(shù)協(xié)議→FAT/SAT→驗(yàn)收計(jì)量→維保簽約。

一、試驗(yàn)箱技術(shù)解析

1. 試驗(yàn)?zāi)康呐c典型工況

黑龍江強(qiáng)光試驗(yàn)箱主要用于模擬戶外高溫強(qiáng)光環(huán)境，測(cè)試材料（如塑料、涂料）和電子產(chǎn)品（如光伏組件、汽車電子）的耐老化性能。典型工況包括：

• 光伏組件測(cè)試：模擬沙漠高溫（85℃）與強(qiáng)光（5000W/m2）聯(lián)合作用，驗(yàn)證封裝材料黃變率。
• 汽車內(nèi)飾測(cè)試：模擬車內(nèi)高溫（105℃）與短波長(zhǎng)光照，檢測(cè)塑料件脆化時(shí)間。
• 電子元器件測(cè)試：模擬電路板在高溫（125℃）下的焊點(diǎn)蠕變。

2. 關(guān)鍵參數(shù)與控制邏輯

3. 標(biāo)準(zhǔn)與適用邊界

• GB/T ：規(guī)定高溫試驗(yàn)的溫度梯度與持續(xù)時(shí)間，適用于電子元器件。
• IEC 60068-2-5：明確太陽(yáng)輻射試驗(yàn)的光譜分布與輻照度，適用于光伏產(chǎn)品。
• ASTM D4329：針對(duì)塑料的熒光紫外老化，需配合UV試驗(yàn)箱使用。

二、選型決策流程與參數(shù)表

1. 選型步驟

1. 明確測(cè)試需求：確定試樣尺寸（如1m2光伏板需容積≥2m3）、溫度/光強(qiáng)范圍。
2. 驗(yàn)證控制方式：優(yōu)先選擇伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)（響應(yīng)速度≤ ）而非液壓控制。
3. 核查安全功能：確認(rèn)過(guò)溫保護(hù)（如150℃自動(dòng)斷電）、門禁聯(lián)鎖（開(kāi)門停機(jī)）。
4. 評(píng)估擴(kuò)展性：預(yù)留濕度模塊接口（如需濕熱交替試驗(yàn)）。

2. 詢價(jià)模板

三、采購(gòu)全流程Checklist

四、選型對(duì)比表

五、常見(jiàn)故障與維護(hù)指南

六、FAQ

Q1：黑龍江強(qiáng)光試驗(yàn)箱能否替代濕熱試驗(yàn)箱？
A：不能。強(qiáng)光試驗(yàn)箱僅模擬高溫光照，濕熱試驗(yàn)需額外配置加濕系統(tǒng)（如GB/T ）。

Q2：設(shè)備校準(zhǔn)周期是多久？
A：建議每12個(gè)月校準(zhǔn)一次（依據(jù)JJF 1101-2019），高頻率使用可縮短至6個(gè)月。

Q3：如何判斷廠商可靠性？
A：核查是否具備CNAS認(rèn)證、近3年同類項(xiàng)目案例（如隆安設(shè)備服務(wù)過(guò)一汽集團(tuán)）。

Q4：試樣放置有何要求？
A：試樣與箱壁間距≥10cm，避免熱輻射干擾；多試樣時(shí)需均勻分布。

Q5：設(shè)備停機(jī)后如何重啟？
A：等待箱內(nèi)溫度降至50℃以下，關(guān)閉總電源5分鐘后重啟，防止熱沖擊。

七、外部參考

• 中國(guó)電器科學(xué)研究院：《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》欄目
• SGS通標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)：《光伏組件測(cè)試方法》技術(shù)白皮書(shū)