1. 導讀

經典系列環境試驗箱Tenney憑借高精度溫度控制（± ℃）、寬溫域（-70℃~+200℃）及安全聯鎖設計，成為高溫老化、材料穩定性測試的核心設備。選型時需重點關注負載容量、控制方式（伺服PID）及符合標準（MIL-STD-810、IEC 60068），避免因參數不匹配導致測試失效。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 一、經典系列Tenney試驗箱技術解析
  • 試驗目的與典型工況
  • 關鍵參數與控制邏輯
  • 符合標準與失效邊界
• 二、選型決策流程與參數表
  • 選型決策流程圖
  • 核心參數解釋表
  • 橫評對比表
• 三、采購全流程Checklist
• 四、常見故障與維護指南
• 五、FAQ
• 六、外部參考
• 七、聲明
• 八、JSON-LD

3. 快速答案卡片

4. 正文結構

一、經典系列Tenney試驗箱技術解析

試驗目的與典型工況

經典系列Tenney試驗箱主要用于高溫老化測試（如電子元器件、復合材料、電池熱失控模擬）及溫濕度循環測試（如包裝材料、軍工產品）。典型工況包括：

• 恒定高溫：125℃下持續1000小時，測試材料熱穩定性（參考ASTM D573）。
• 溫度沖擊：-40℃至+150℃快速切換（≤10秒），模擬極端環境（如航天器發射階段）。
• 濕熱交替：85℃/85%RH與25℃/50%RH循環，加速金屬腐蝕或塑料水解。

失效機理：高溫導致材料氧化、蠕變或相變；濕熱引發電化學腐蝕或絕緣性能下降。

關鍵參數與控制邏輯

控制邏輯：通過鉑電阻溫度傳感器（PT100）實時反饋，伺服系統調節加熱/制冷功率，確保溫場均勻性（≤2℃）。

符合標準與失效邊界

• MIL-STD-810G：軍用設備環境工程考慮，要求試驗箱能模擬-55℃~+125℃極端溫度。
• IEC 60068-2-78：電子元器件高溫壽命試驗，規定升溫速率≤3℃/min。
• 失效邊界：超溫保護失效可能導致試樣燒毀；濕度控制偏差＞5%RH會影響材料吸濕率測試結果。

二、選型決策流程與參數表

選型決策流程圖

核心參數解釋表

橫評對比表

三、采購全流程Checklist

1. 需求確認：明確測試類型、溫濕度范圍、試樣尺寸。
2. 技術協議：約定控制精度、安全聯鎖、驗收標準（如GB/T ）。
3. 報價對比：要求廠商提供分項報價（設備+運輸+安裝）。
4. FAT/SAT：工廠驗收測試（FAT）檢查設備功能；現場驗收測試（SAT）驗證實際工況。
5. 計量校準：每年委托第三方機構（如CNAS實驗室）進行溫濕度場校準。
6. 維保合同：明確備件供應周期（如加熱管更換≤72小時）。

四、常見故障與維護指南

維護周期：

• 每月：清潔冷凝器、檢查安全聯鎖。
• 每季度：更換空氣過濾器、潤滑門封條。

5. FAQ

Q1：Tenney經典系列與競品的主要差異是什么？
A1：Tenney采用伺服PID控制，溫度波動更小（± ℃ vs 競品± ℃），且符合MIL-STD-810軍標，適合高可靠性測試場景。

Q2：如何驗證試驗箱的溫場均勻性？
A2：按GB/T 標準，在空載和滿載狀態下分別布置9個測溫點，記錄24小時數據，計算最大溫差。

Q3：采購時是否需要預留擴展接口？
A3：建議預留RS485/以太網接口，便于后期接入LIMS（實驗室信息管理系統）實現數據自動化采集。

Q4：設備壽命一般多久？
A4：核心部件（如壓縮機、加熱管）壽命約8~10年，日常維護可延長至12年。

Q5：高溫老化測試是否需要全程監控？
A5：是的，MIL-STD-810要求每24小時記錄一次溫度、試樣狀態，防止意外失效導致數據丟失。

6. 外部參考

• SAE International：《Aerospace Material Testing Standards》
• ASTM International：《Standard Test Methods for Rubber—Determination of Temperature Retraction》