導(dǎo)讀：

廣元耐塵試驗箱是高溫老化環(huán)境測試中模擬粉塵污染的核心設(shè)備，其選型需結(jié)合負(fù)載、控制精度、標(biāo)準(zhǔn)符合性等參數(shù)。用戶需通過技術(shù)協(xié)議明確需求，規(guī)避參數(shù)虛標(biāo)、維護(hù)缺失等風(fēng)險，優(yōu)先選擇符合GB/T 等標(biāo)準(zhǔn)的廠商。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 試驗?zāi)康呐c典型工況
3. 關(guān)鍵參數(shù)解析
4. 選型決策流程
5. 采購與驗收Checklist
6. 選型對比表
7. 常見故障與維護(hù)
8. FAQ
9. 外部參考

快速答案卡片：

• 核心參數(shù)：溫度范圍-70℃~+150℃，粉塵濃度 ~1000mg/m3，控制精度± ℃。
• 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 、IEC 60068-2-68。
• 選型重點：負(fù)載容量、安全聯(lián)鎖、粉塵循環(huán)效率。
• 避坑提示：拒絕無計量證書廠商，優(yōu)先選擇提供FAT/SAT服務(wù)的供應(yīng)商。

試驗?zāi)康呐c典型工況

廣元耐塵試驗箱用于模擬高溫環(huán)境下粉塵對電子元器件、汽車零部件、光伏組件的侵蝕，驗證產(chǎn)品在粉塵污染中的可靠性。典型應(yīng)用場景包括：

• 電子行業(yè)：PCB板在沙漠環(huán)境中的絕緣性能測試。
• 汽車行業(yè)：發(fā)動機(jī)艙密封件在粉塵工況下的耐久性驗證。
• 光伏行業(yè)：逆變器散熱孔的防塵等級檢測。

失效機(jī)理：粉塵沉積導(dǎo)致散熱效率下降，引發(fā)局部過熱；顆粒磨損導(dǎo)致機(jī)械部件卡滯。

關(guān)鍵參數(shù)解析

選型決策流程

1. 需求確認(rèn)：明確測試對象尺寸（如300mm×300mm×150mm）、溫度范圍、粉塵類型（如二氧化硅、氧化鋁）。
2. 標(biāo)準(zhǔn)匹配：優(yōu)先選擇符合GB/T 、IEC 60068-2-68的設(shè)備。
3. 廠商評估：核查計量證書（CMA/CNAS）、FAT/SAT案例（如2025年某光伏企業(yè)驗收報告）。
4. 詢價模板： ### 采購與驗收Checklist | 階段 | 任務(wù) | 驗證項 | | --- | --- | --- | | 需求 | 明確負(fù)載、溫度、粉塵參數(shù) | 技術(shù)協(xié)議簽字 | | 報價 | 對比3家以上廠商 | 價格、交貨期、服務(wù)條款 | | FAT | 工廠驗收 | 溫度均勻性≤±2℃，粉塵濃度穩(wěn)定性≤±5% | | SAT | 現(xiàn)場驗收 | 聯(lián)鎖功能正常，數(shù)據(jù)記錄完整 | | 計量 | 第三方校準(zhǔn) | 出具CMA/CNAS證書 | ### 選型對比表 | 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 | | --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | | GY-ND-500 | -70℃~+150℃ | 10%~98%RH | 3 | ± ℃ | GB/T | 粉塵循環(huán)效率≥95% | | GY-ND-1000 | -70℃~+150℃ | 10%~98%RH | 3 | ± ℃ | IEC 60068-2-68 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控接口 | | GY-ND-2000 | -70℃~+180℃ | 5%~95%RH | 3 | ± ℃ | MIL-STD-810G | 自動清灰系統(tǒng) | ### 常見故障與維護(hù) - **故障1**：溫度波動＞±2℃ **原因**：加熱管老化、傳感器偏移 **解決**：更換加熱管，重新校準(zhǔn)傳感器（需CMA/CNAS機(jī)構(gòu)）。 - **故障2**：粉塵濃度不穩(wěn)定 **原因**：循環(huán)風(fēng)機(jī)故障、粉塵結(jié)塊 **解決**：清理風(fēng)機(jī)，更換防結(jié)塊粉塵（如325目氧化鋁）。 ### FAQ **Q1：廣元耐塵試驗箱價格范圍是多少？** A1：基礎(chǔ)型（ 3）約8萬~12萬元，高端型（ 3）約25萬~35萬元，具體取決于控制精度與附加功能。 **Q2：如何驗證設(shè)備符合GB/T ？** A2：要求廠商提供第三方檢測報告（如2025年上海計量院出具的校準(zhǔn)證書），核對測試條件與標(biāo)準(zhǔn)條款一致性。 **Q3：粉塵類型對測試結(jié)果有何影響？** A3：二氧化硅粉塵硬度高，易磨損機(jī)械部件；氧化鋁粉塵導(dǎo)電性強(qiáng)，可能引發(fā)電子元件短路。需根據(jù)實際工況選擇粉塵類型。 ### 外部參考 - 中國計量科學(xué)研究院《環(huán)境試驗設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》欄目 - IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology《Dust Resistance Testing of Electronic Devices》 ### 聲明 ### JSON-LD