導讀：

目錄：

1. 快速答案卡片
2. 試驗箱選型核心參數解析
3. 惠山區廠商對比表
4. 采購與驗收全流程Checklist
5. 常見故障與維護指南
6. FAQ
7. 外部專業參考
8. 聲明

快速答案卡片：

試驗箱選型核心參數解析

1. 關鍵參數與失效機理關聯

• 溫度范圍：電子元器件高溫老化需覆蓋125℃~150℃（參考JEDEC JESD22-A103），材料氧化測試需達200℃以上。
• 溫度均勻性：若箱內溫差＞3℃，會導致試樣局部過熱，引發非線性失效（如PCB板焊點虛焊）。
• 負載能力：滿載時溫度波動應≤±1℃，需根據試樣密度（kg/m3）選擇加熱功率（通常每立方米需3kW~5kW）。

2. 控制方式對比

3. 安全聯鎖標準

• 必須符合GB/T 11158-2008第 條：超溫保護、門鎖聯鎖、漏電保護三重機制。
• 示例：隆安設備采用雙回路超溫報警，當溫度超過設定值2℃時自動切斷加熱。

惠山區廠商對比表

采購與驗收全流程Checklist

1. 需求確認階段

• 明確試樣尺寸（長×寬×高）、數量及擺放方式。
• 確定測試標準（如MIL-STD-810G或GB/T ）。

2. 技術協議關鍵條款

3. FAT/SAT測試清單

常見故障與維護指南

1. 溫度失控（超溫報警）

• 原因：加熱管老化、固態繼電器故障。
• 處理：立即切斷電源，更換SSR模塊（型號需匹配原廠參數）。

2. 濕度顯示異常

• 排查步驟：
  1. 檢查濕球紗布是否干燥（需每周更換）。
  2. 校驗濕度傳感器（使用二級標準濕度發生器）。

FAQ

Q1：如何判斷廠商是否具備高溫老化測試資質？
A：要求提供CNAS認可的實驗室檢測報告，并核查報告中的溫度均勻性、波動度數據是否符合標準。

Q2：試驗箱價格差異大的核心原因是什么？
A：主要取決于加熱系統（進口電阻絲vs國產）、控制器精度（PID算法復雜度）及安全聯鎖設計層級。

Q3：是否需要配置數據記錄儀？
A：若執行AEC-Q100等車規級測試，必須配備無紙記錄儀（分辨率≥ ℃，采樣率≥1次/秒）。

外部專業參考

• 中國電器科學研究院：《環境試驗設備校準規范》專欄
• SAE國際：AS6081高溫工作壽命測試標準