導讀：

蘇州HAST壽命老化試驗箱是半導體、電子元器件、汽車電子領域高溫高濕加速老化測試的核心設備，選型需重點關注溫度/濕度均勻性、壓力控制精度、安全聯鎖設計及符合標準（如IEC 60068-2-66）。建議通過技術協議明確參數邊界，優先選擇具備CNAS校準資質的廠商，避免因設備性能不足導致測試數據失真。

目錄：

1. 快速答案卡片
2. 技術核心與行業應用
3. 選型決策流程與參數表
4. 采購全流程Checklist
5. 設備故障與維護實操
6. 選型對比表
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片：

• 典型應用：半導體封裝可靠性測試、汽車電子IGBT模塊壽命驗證、LED驅動電源高溫高濕老化。
• 關鍵參數：溫度范圍120-150℃、濕度85-100%RH、壓力 、均勻性± ℃。
• 核心標準：IEC 60068-2-66、JESD22-A110、GB/T 。
• 選型避坑：拒絕無安全聯鎖設計的低價設備，優先選擇支持數據追溯的智能控制系統。

技術核心與行業應用：

1. 試驗目的與失效機理

HAST（Highly Accelerated Stress Test）通過高溫（120-150℃）、高濕（85-100%RH）、高壓（ ）環境，加速材料老化過程，模擬產品5-10年自然使用條件。典型失效模式包括：

• 半導體封裝：焊點蠕變、塑封料吸濕膨脹導致分層；
• 汽車電子：PCB板吸濕后爆板、連接器接觸電阻上升；
• LED驅動：電解電容漏液、功率器件熱失控。

2. 關鍵參數與控制邏輯

控制邏輯：采用伺服電機驅動壓力調節閥，配合PID算法實現溫度/濕度/壓力三參數閉環控制，確保試驗腔體參數與設定值偏差≤1%。

選型決策流程與參數表：

1. 選型四步法

1. 需求確認：明確測試對象尺寸（如PCB板300×400mm）、負載數量（如20個樣品）、標準要求（如JESD22-A110）；
2. 參數匹配：對比廠商設備參數表，重點關注溫度/濕度均勻性、壓力控制范圍；
3. 安全驗證：要求廠商提供CE認證報告、安全聯鎖設計圖紙（如超壓自動泄壓閥）；
4. 成本評估：區分設備報價（含安裝調試）與后續計量校準費用（約5%/年）。

2. 詢價模板

采購全流程Checklist：

設備故障與維護實操：

1. 常見故障與解決方案

2. 維護周期表

選型對比表：

FAQ：

Q1：HAST試驗箱能否替代傳統高溫老化箱？
A：不能完全替代。HAST適用于快速篩選早期失效（如100小時模擬5年使用），而傳統高溫老化箱（如85℃/85%RH）適用于長期可靠性驗證（如1000小時）。兩者需結合使用。

Q2：設備壓力控制異常如何排查？
A：1. 檢查伺服閥供電是否正常；2. 驗證壓力傳感器校準記錄；3. 檢查空氣管路是否泄漏。若問題仍存在，需聯系廠商更換伺服閥。

Q3：HAST試驗后樣品出現爆板，可能原因是什么？
A：常見原因包括PCB吸濕后快速升溫導致蒸汽壓力過高、壓力控制超限、樣品預處理不足（如未進行85℃/85%RH預烘）。需檢查試驗曲線是否符合標準要求。

外部參考：

• 中國電器科學研究院：《環境試驗設備校準規范》欄目
• IEC國際電工委員會：IEC 60068-2-66標準原文
• SEMICON中國：半導體封裝可靠性測試指南