目錄

1. 快速答案卡片
2. 選型決策流程與技術參數
3. 典型工況與失效機理
4. 設備橫評對比表
5. 采購全流程Checklist
6. 常見問題解答（FAQ）
7. 外部參考
8. 聲明

快速答案卡片

選型決策流程與技術參數

1. 核心參數解析表

2. 選型決策流程圖

1. 明確測試需求（溫度范圍/負載/周期）
   ↓
2. 篩選符合IEC 60068標準的廠商
   ↓
3. 對比控制方式（PID伺服 vs 液壓）
   ↓
4. 驗證安全聯鎖功能（過溫保護測試）
   ↓
5. 索取校準證書（CNAS認可實驗室）

3. 詢價模板示例

致：XXX公司
需采購探針恒溫試驗箱1臺，要求：
- 溫度范圍：-40℃~+200℃
- 控制精度：±1℃（全量程）
- 負載容量：10kg
- 符合標準：IEC 60068-2-2
請提供技術方案、報價及FAT（工廠驗收）流程。

典型工況與失效機理

1. 半導體封裝測試

工況：175℃持續1000小時，模擬功率器件高溫工作狀態。
失效模式：焊料球空洞率增加（X-Ray檢測）、引腳氧化（SEM分析）。
關鍵參數：溫度波動≤±0.3℃，均勻性≤2℃（9點法測量）。

2. 汽車電子老化

工況：85℃/85%RH雙應力，48小時循環。
失效模式：PCB分層（DSC分析玻璃化轉變溫度）、電容ESR值上升。
設備要求：濕度控制精度±3%RH，帶冷凝排水功能。

3. 航空航天材料

工況：-55℃~+150℃快速溫變，10℃/min速率。
失效模式：復合材料界面脫粘（超聲C掃描）、密封圈壓縮永久變形。
安全標準：需通過MIL-STD-810G振動兼容測試。

設備橫評對比表

采購全流程Checklist

1. 需求確認：明確測試對象尺寸、溫度曲線、循環次數
2. 技術協議：約定溫度均勻性、過沖量、恢復時間等指標
3. 報價對比：要求分項報價（加熱系統、控制系統、安全模塊）
4. FAT驗收： - 空載運行24小時，記錄溫度曲線 - 滿載測試，驗證均勻性 - 模擬過溫故障，檢查聯鎖響應
5. 安裝調試：檢查接地電阻≤0.1Ω，壓縮空氣壓力穩定
6. 計量校準：每年由CNAS實驗室出具校準證書
7. 維保合同：明確備件供應周期（如加熱管48小時響應）

常見問題解答（FAQ）

Q1：設備溫度超調怎么辦？

A：檢查PID參數是否匹配負載（大負載需增大積分時間），驗證加熱管功率是否衰減（用紅外測溫儀檢測實際表面溫度）。

Q2：如何判斷傳感器失效？

A：將傳感器插入冰水混合物（0℃）和沸水（100℃），實測值與理論值偏差＞0.5℃需更換。推薦使用Fluke 754校準儀驗證。

Q3：高溫試驗箱能替代低溫箱嗎？

A：不可替代。低溫功能需獨立制冷系統（通常采用復疊式制冷），高溫箱強行降溫會導致壓縮機過載。

Q4：為什么試驗箱內結霜？

A：濕度控制失效或門封條漏氣。檢查除濕系統（轉輪式除濕機需每2年更換轉輪），用壓差計檢測門封泄漏量（應＞50Pa）。

Q5：設備噪音過大如何處理？

A：檢查風機軸承（用振動儀檢測＞5mm/s需更換），確認制冷壓縮機固定螺栓是否松動，清理冷凝器翅片灰塵。

外部參考

IEC國際電工委員會 - IEC 60068環境試驗標準
中國電器科學研究院 - GB/T 2423環境試驗方法
SAE國際汽車工程師協會 - SAE J2334汽車電子高溫試驗

聲明