TDACC試驗箱接電阻需根據測試目的（如高溫老化、功率循環）選擇電阻類型（功率電阻/精密電阻）、連接方式（串聯/并聯）及參數（阻值、功率、溫漂系數）。關鍵步驟包括確定負載需求、匹配試驗箱功率容量、遵循IEC 60068或MIL-STD-810標準，并通過FAT/SAT驗收確保系統穩定性。選型時需對比溫度范圍、控制精度等指標，采購流程需覆蓋技術協議、校準及維保條款。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 電阻連接技術流程
3. 電阻類型與選型決策
4. 試驗箱選型橫評表
5. 常見故障與維護
6. 采購全流程Checklist
7. FAQ
8. 外部參考
9. 聲明

快速答案卡片

電阻連接技術流程

1. 確定測試目的與工況

• 高溫老化測試：需選擇功率電阻（如繞線電阻），阻值穩定性要求≤±1%。
• 功率循環測試：需精密電阻（如金屬膜電阻），溫漂系數≤50ppm/℃。
• 典型工況參數：

  參數	范圍	來源
  溫度	-70℃~+300℃	IEC 60068-2-1
  負載功率	10W~500W	MIL-STD-810G
  控制精度	±0.5℃	隆安老化實驗室數據（2025）

2. 電阻選型與連接方式

• 串聯連接：適用于分壓測試，總阻值=R1+R2+...+Rn。
• 并聯連接：適用于分流測試，總阻值=1/(1/R1+1/R2+...+1/Rn)。
• 選型決策流程：
  1. 計算測試所需功率（P=I2R）。
  2. 匹配試驗箱最大負載（如TDACC-500型最大負載500W）。
  3. 選擇溫漂系數≤50ppm/℃的電阻。
  4. 驗證連接方式對采樣率的影響（伺服控制需采樣率≥10Hz）。

電阻類型與選型決策

1. 電阻類型對比

2. 選型決策樹

（注：決策節點包括測試溫度、功率需求、精度要求）

試驗箱選型橫評表

常見故障與維護

1. 典型故障

• 電阻燒毀：原因包括功率超載、散熱不良或溫漂超標。
• 控制失效：伺服系統采樣率不足（需≥10Hz）或安全聯鎖觸發。
• 數據異常：傳感器分辨率不足（建議≥0.1℃）或連接線松動。

2. 維護清單

采購全流程Checklist

1. 需求確認：明確測試溫度、負載功率、控制方式。
2. 技術協議：約定精度、分辨率、安全聯鎖條款。
3. 報價對比：參考橫評表，優先選擇符合IEC/MIL標準的廠商。
4. FAT/SAT驗收：
   • FAT（工廠驗收）：測試負載容量、控制穩定性。
   • SAT（現場驗收）：驗證安裝環境、數據接口兼容性。
5. 計量校準：委托第三方機構（如CNAS認證實驗室）出具報告。
6. 維保條款：明確備件供應周期、響應時間（建議≤48小時）。

FAQ

Q1：如何選擇電阻功率？

A1：根據測試電流（I）和阻值（R）計算功率（P=I2R），并預留20%余量。例如，測試電流5A、阻值10Ω時，需選擇功率≥300W的電阻。

Q2：TDACC試驗箱能否用于濕熱測試？

A2：部分型號（如TDACC-200）支持濕度控制（20%~98%RH），但需確認是否符合IEC 60068-2-30（濕熱試驗）標準。

Q3：電阻連接后如何驗證穩定性？

A3：通過四線制測量法消除引線電阻影響，并持續監測溫漂系數（建議≤50ppm/℃）。

外部參考

• 機構：中國電器科學研究院（CEI），欄目：環境試驗標準
• 機構：美國軍方標準（MIL-STD），欄目：MIL-STD-810G環境工程考慮和實驗室測試

聲明