電路板老化測試箱用于模擬高溫環(huán)境加速電子元件壽命測試，需根據(jù)負載容量、溫度均勻性、控制精度等參數(shù)選型。正確使用需遵循IEC 60068-2-2等標準，通過技術協(xié)議簽訂、FAT/SAT驗收、定期校準等流程確?？煽啃?。選型時需重點對比溫度范圍、濕度控制、安全聯(lián)鎖等指標，避免低價設備導致的測試偏差風險。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 使用流程與關鍵參數(shù)
3. 選型決策流程
4. 設備對比表
5. 常見故障與維護
6. 采購全流程Checklist
7. FAQ
8. 外部參考
9. 聲明

快速答案卡片

使用流程與關鍵參數(shù)

1. 試驗目的與失效機理

電路板高溫老化測試通過加速熱應力暴露潛在缺陷，如焊點虛焊、電容漏液、IC封裝開裂。據(jù)中國電子技術標準化研究院2025年報告，70%的早期失效可通過85℃/48小時老化測試檢出。

2. 典型工況參數(shù)

3. 操作流程

1. 預處理：清潔測試箱內(nèi)部，校準溫度傳感器（需第三方計量證書）
2. 裝載：試樣間距≥50mm，避免熱堆積（參考IPC-TM-650 2.6.27）
3. 設置程序：
   • 階段1：30min升溫至85℃
   • 階段2：保持85℃±2℃持續(xù)48小時
   • 階段3：自然降溫至室溫
4. 監(jiān)控：每4小時記錄溫度曲線，異常時觸發(fā)安全聯(lián)鎖

選型決策流程

1. 核心參數(shù)矩陣

2. 詢價模板

致[廠商名稱]：
請?zhí)峁┮韵滦吞栐O備的技術參數(shù)及報價：
1. 溫度范圍：85℃~150℃
2. 均勻性：±2℃（空載）
3. 負載容量：≥1kW
4. 符合標準：IEC 60068-2-2
5. 附加功能：數(shù)據(jù)記錄、遠程監(jiān)控
要求提供FAT/SAT測試方案及計量證書樣本。

設備對比表

常見故障與維護

1. 典型故障

2. 維護周期表

采購全流程Checklist

1. 需求確認：明確測試對象尺寸、溫度范圍、通斷次數(shù)要求
2. 技術協(xié)議：約定溫度均勻性、負載容量、驗收標準等12項核心條款
3. FAT測試：在廠商處進行空載/滿載測試，驗證升溫速率及均勻性
4. SAT驗收：用戶現(xiàn)場復現(xiàn)典型工況，連續(xù)運行72小時無故障
5. 計量認證：委托第三方機構出具CNAS認可的校準證書
6. 維保合同：明確備件供應周期（建議≤48小時）及響應時效

FAQ

Q1：如何判斷設備溫度均勻性是否達標？

在空載狀態(tài)下，將9個溫度傳感器均勻布置于工作區(qū)（上中下各3點），運行至穩(wěn)定狀態(tài)后記錄數(shù)據(jù)，最大差值應≤±2℃（依據(jù)GB/T 2423.2-2008）。

Q2：電路板老化測試需要多長時間？

常規(guī)消費電子產(chǎn)品推薦48~96小時（85℃），汽車電子需執(zhí)行1008小時（125℃）的HALT測試，具體時長參考產(chǎn)品技術規(guī)范。

Q3：低價設備可能存在哪些風險？

① 溫度控制精度不足導致測試無效；② 缺乏安全聯(lián)鎖引發(fā)火災；③ 材質(zhì)不耐高溫造成設備自身損壞。建議避免采購無CNAS認證的廠商產(chǎn)品。

外部參考

中國電子技術標準化研究院《電子元器件高溫老化測試白皮書（2025）》，全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會（SAC/TC 8）

聲明